В таблице 1-1 дается обзор функциональности системы TOPAS в режиме пользовательского интерфейса (GUI-режим) и режиме запуска. Обратитесь к техническому справочному руководству для получения подробной информации.
Таблица 1-1. Функциональность TOPAS. Функции, отмеченные, как GUI, доступны в GUI-режиме (режим графического пользовательского интерфейса). Функции, отсутствующие в TOPAS P помечены значком =P=.
Функции | ||
Методы подбора профиля и их применение | ||
Подбор одной линии по методу подбора для порошкового образца – Whole Powder Pattern Fitting | GUI | |
Индицирование (LSI-индекс, LP-поиск) | GUI | |
Декомпозиция порошкового образца (метод Поули, метод ЛеБейля) | GUI | |
Уточнение структуры методом Ритвельда | P | GUI |
Количественный анализ методом Ритвельда | P | GUI |
Определение структуры (имитация отжига, переворот заряда), отображение электронной плотности | P | |
Данные измерений и параметры уточнения | ||
Лабораторные и синхротронные рентгеновские данные, постоянная длина волны и данные нейтронных времяпролетных измерений | GUI | |
Время подсчета переменных (VCT) | GUI | |
Данные от одного кристалла | P | |
Комбинированное уточнение рентгеновских и нейтронных порошковых данных | P | GUI |
Комбинированное уточнение данных о порошке и одном кристалле1) | P | |
Отсутствие зависимости от рентгеновских данных (могут подбираться все данные XY) | GUI | |
Поддержка неэквидистантных шагов по оси X | GUI | |
Поддержка отрицательных значений по оси X | GUI | |
Одновременное уточнение по любому числу дифракционных моделей с любым числом пиков, точек данных и параметров | GUI | |
Уточнение любого числа структур в дифракционной модели с любым числом мест в структуре и атомов в месте | P | GUI |
Все параметры можно фиксировать, уточнять, связывать и ограничивать | GUI | |
Количественный фазовый анализ | ||
Поддержка методов добавок и калибровки | GUI | |
Количественное определение фаз с частичными или неизвестными кристаллическими структурами | GUI | |
Коррекция микроабсорбции методом Бриндли (Brindley) | GUI | |
Анализ степени кристалличности | GUI | |
Модели формы пиков | ||
Аналитический подбор профилей | GUI | |
Функции профиля | ||
PVII, измененный PV, TCHZ PV, Voigt | GUI | |
Асимметрия | ||
SPV, SPVII (для подбора одной линии) | GUI | |
Простая и полная осевые модели (Чири и Коэльо) (Cheary & Coelho, 1998a, b) | GUI | |
Коррекция асимметрии по Фингеру (Finger) (Фингер и др., 1994 г.) | GUI | |
Определение размера кристаллического блока по методу Шеррера (Scherrer) | GUI | |
Прямой сверточный подход | GUI | |
Измеряемые функции инструментов | GUI | |
Фундаментальный подход к параметрам | GUI | |
Анализ нестандартных кристаллических блоков и анализ деформаций | GUI | |
Уточняемые параметры инструментов | GUI | |
Determination of mean sample absorption coefficient and sample thickness | GUI | |
Tube tails correction | GUI | |
Support of user-defined convolutions | GUI | |
Фоновые модели | ||
Полиномы Чебышева n-го порядка | GUI | |
Одиночные пики (PV, SPV, PVII, SPVII, Гаусс, Лоренц, Фойхт, FPA) | GUI | |
Фон типа 1/x | GUI | |
Модулированный фон | ||
Модели преимущественной ориентации | ||
Марч-Доллас (March-Dollase) | GUI | |
Сферические гармоники | GUI | |
Анизотропные модели уточнения | ||
Расширение пиков | ||
Сдвиги пико | ||
Преимущественная ориентация | ||
Температурные факторы | P | |
Связи и ограничения | ||
Любые линейные и нелинейные условия | GUI | |
Функции коррекции Может применяться ко всем параметрам, требующим уточнения | P | |
Ограничения на длину связи (Антибамп, парабола, минимизация энергии решетки, пользовательский режим) | P | |
Жесткие и мягкие тела со всеми уточняемыми параметрами | P | |
Редактор жестких тел | ||
Процедуры минимизации | ||
Маркварт | GUI | |
Метод BFGS | GUI | |
Линейная минимизация | GUI | |
Экстраполяция | GUI | |
Метод разреженных матриц | GUI | |
Прочее | ||
Расширяемый язык макросов/ | ||
поддержка пользовательских параметров уточнения и модели уточнения | ||
Возможность полностью автоматической работы | ||
1) Данные об одном кристалле недоступны в GUI-режиме |