Скануюча ближньопільна оптична мікроскопія

Студент гр. ЕП-91 М.Є.Котлубаєв

 

Науковий керівник, к. ф.-м. н.,

ст. викладач І.П.Бурик

 

 

Конотоп 2012

Зміст

 

Вступ……………………………………………………………………..
Розділ 1 Принцип роботи скануючого оптичного мікроскопа ближнього поля………………………..
1.1 Історія створення………………………………………………
1.2 Принцип роботи………………………………..
Розділ 2 Методи отримання зображення……………….
2.1 Апертурний та безапертурний СБОМ………………………..
2.2 Методи отримання випромінювання ………………………
Розділ 3 Різновиди мікроскопів…………………
3.1 Принцип дії та елементи будови мікроскопа Certus NSOM...
3.2 Модифікації мікроскопа Certus NSOM………………..
3.3 Мікроскопи ІНТЕГРА та Alpha300 S………………….
Висновки………………………………………………………………..
Список використаних джерел…………………………………

 

Вступ

 

Актуальність

 

 

Об’єктом дослідження даної роботи є оптична мікроскопія.

Предметом дослідження – скануюча ближньопільна оптична мікроскопія.

Метою курсової роботи є аналіз скануючої мікроскопії ближнього поля.

Відповідно до мети були поставлені наступні завдання:

- розглянути історичні відомості про створення мікроскопа;

- проаналізувати узагальнений принцип роботи

- охарактеризувати методи апертурної та безапертурної скануючої оптичної мікроскопії ближнього поля;

- визначити методи отримання випромінювання;

- пояснити принцип дії та розглянути основні елементи будови мікроскопа Certus NSOM

- дослідити розробки в напрямку модифікації мікроскопа Certus NSOM;

- надати короткий опис мікроскопів ІНТЕГРА та Alpha300 S.

 

 

Методики дослідження

 

Шляхом абстрагування і історичного методу виявлено ключові моменти в історії, які безпосередньо вплинули на створення скануючого ближньопільного оптичного мікроскопа (СБОМ), за допомогою зворотного (елементарно-теоретичного) а налізу, порівняння, аналогії і дедукції віднайдено відомості про схожість теорії Сінга (1928 р.) з принципом роботи першого СБОМ (1982 р.), з використанням модельована та формалізації отриманий БСОМ за теорією Сінга.

Використовуючи метод типології і порівняння СБОМ з скануючим тунельним мікроскопом (СТМ) проаналізовано принцип роботи мікроскопа, а за допомогою методу синтезу, теорії і формалізації виявлено властивості субхвилі за допомогою якої виконується сканування, такою при моделюванні і формалізації показана схема роботи СБОМ.

Шляхом аналізу та порівняння охарактеризовані методи апертурної та безапертурної СБОМ, метод систематизація використовується при комп'ютерному моделюванні результатів сканування зразка.

Фасетний метод класифікації та метод формалізації використаний при дослідженні методів отримання випромінювання.

Шляхом структурно-генетичного аналізу виділені базові елементів конструкції мікроскопа Certus NSOM за допомогою типології та абстрагування висвітлено принцип дії даного БСОМ, використавши метод класифікації, моделювання та формалізації приведені методики освітлення та (або) детектування сигналу в мікроскопі.

Шляхом прямого (емпіричного) аналізу та абстрагування виявлені модифікації Certus NSOM, їх особливості та складові

- дослідити розробки в напрямку модифікації мікроскопа Certus NSOM;

- надати короткий опис мікроскопів ІНТЕГРА та Alpha300 S.

 

 

Шляхом прямого (емпіричного) аналізу і синтезу виявити особливості методів скрайбування алмазним різцем, скрайбування лазерним променем та різка алмазними дисками, а також методів розламування пластин на кристали. Шляхом порівняння встановити подібності (відмінності) параметрів методів скрайбування та різання. При використанні методу вимірювання дослідити можливі похибки при розділеннях пластин та підкладок. Зробити відповідне порівняння методів, щодо точності розділення. За допомогою методу узагальнення (виділити суттєві ознаки), формалізації та класифікації виконати стислу характеристику методів різання набором стальних полотен, різання дротом та ультразвукове різання.

 

 

Курсова робота складається з

 

У першому розділі

 

 

У другому розділі