1. Ознакомиться с устройством электронного микроскопа.
2. Включить микроскоп, получить необходимый вакуум, поднять ускоряющее напряжение, получить электронный пучок, провести юстировку и наблюдать за работой микроскопа.
3. Освоить простейшие операции, такие как загрузка образца, перемещение образца (поиск области исследования), переход из режима изображения в режим дифракции и наоборот, получение изображения и дифракции, выбор увеличения и длины камеры, регистрация изображений и дифракционных картин.
4. Для каждого необходимого увеличения найти масштабный коэффициент и, минимально меняя настройки линзовой системы, получить снимки исследуемого объекта.
5. Измерить размеры объекта с учётом неопределённостей.
6. Составить отчёт по заданной форме.
Отчёт должен содержать:
1. Название работы и дату выполнения.
2. Фамилию и номер группы студента, выполнившего работу.
3. Описание эксперимента.
4. Обработку полученных данных
5. Заключение.
Рекомендуемая литература:
· П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэлан "Электронная микроскопия тонких кристаллов", пер. с англ., Мир, М., 1968.
· А. М. Утевский "Дифракционная электронная микроскопия в металловедении", Металлургия, М., 1973.
· Инструкция по эксплуатации микроскопа JEM 2100.