Разностный компенсационный

При прямом измерении непосредственнорегистрируется измеряемый параметр X.

При косвенном измерении измеряемая величина связана известной функциональной зависимостью с регистрируемыми параметрами излучения: X=φ(хi), где X- величина; которую следует определить в результате измерений, а Хi- регистрируемый прибором параметр.

Метод отклонений (непосредственное сравнение) – измеряемая величина вызывает реакцию прибора, известную из предварительной градуировки по эталону. С учётом результатов предварительной градуировки определяются параметры объекта.

При опосредованном сравнении – сравниваются параметры объекта с параметрами эталона, посредством различных технических средств. Основной вариант опосредованного сравнения– это дифференциальный метод.

В дифференциальном методе измеряемая величина сравнивается с эталоном. Выявляется различие параметров объекта и эталона. Такое сравнение возможно двумя путями: разностное или компенсационное.

Разностный метод:

* Фэт. Фэт. 4

П.И Фэт ∆Ф

1 Фх

* Фх Фх 5 t

2. 3 Т

Схема дифференциально- разностного фотометра содержит: 1 – источника излучения 2 – оптическая система; 3 – модулятор – прерыватель; 4 – фотоприемник; 5 – контур связи для синхронизации сигнала и положения модулятора.

Разностный сигнал: ΔФ=Фэт – Фх, откуда следует ΔU=S_vΔФ, поэтому Фх= Фэт- ΔФ, Следовательно ΔФ=ΔU/ Sv, в результате Фх= Фэт-(U/ Sv).

Дифференциальный компенсационный оптический метод сравнения с эталоном.

7 6

5

Фэт

* Фэт.

Фх Сигнал составит: Фх=Косл Фэт

П.И.

1 * 2 Фх 3 4

Схема дифференциального компенсационного метода содержит:

1 – источника излучения; 2 – оптическая система, которая фокусирует изображение источника на фотоприемник (4); 3 – модулятор – прерыватель, поочередно прерывающий сигнал от эталона или от источника; 5 – компенсатор, ослабляющий поток;6 – обратная связь, регулирующая степень компенсации; 7 – регистрирующий элемент.

Метод замещения. Состоит в замещении эталона на исследуемый образец для выявления расхождений их параметров. Фэт на Фх. Например – фотометрический шар.

Метод отношений исходит изотношения параметров образца и эталона: Ф_х/Ф_эт= к. Тогда искомый параметр находится по формуле: Ф_х= к∙ Ф_эт.