Сравнение TOPAS и TOPAS P

ВВЕДЕНИЕ

Обзор TOPAS

TOPAS – это программа анализа графических профилей, построенная на системе нелинейного подбора методом наименьших квадратов. В TOPAS интегрированы различные типы дифракционного и нейтронного анализа за счет поддержки методов подбора профилей, которые в настоящее время используются в порошковой дифрактометрии:

· подбор одной линии по методу подбора для порошкового образца – Whole Powder Pattern Fitting;

· индицирование с использованием LSI-индицирования и LP-поиска (Коэльо (Coelho), 2003 г., Коэльо и Керн (Coelho & Kern), 2005 г.);

· декомпозиция порошкового образца (Whole Powder Pattern Decomposition) по Поули (Pawley, 1981 г.) и Ле Бейль (Le Bail) и др., 1988 г., которые ниже называются метода Поули и метод Ле Бейля, соответственно;

· уточнение структуры методом Ритвельда (Rietveld, 1967 г., 1969 г.) и количественный анализ Ритвельда (Хилл и Ховард (Hill & Howard), 1987 г.);

· определение структуры с нуля с использованием метода имитации отжига (Коэльо (Coelho), 2000 г.) и метода переворота заряда (Charge Flipping, Коэльо (Coelho), 2007 г.);

Сравнение TOPAS и TOPAS P

Для случаев, когда не требуется полная функциональность TOPAS, был разработан дополнительный вариант: TOPAS P.

Система TOPAS P разработана для анализа профилей порошковых данных без использования модели кристаллической структуры. В это решение включены методы Whole Powder Pattern Fitting, Whole Powder Pattern Decomposition (методы Поули и Ле Бейля) и индицирование (LSI-индицирование и LP-поиск).

Можно применять эту систему для определения точных параметров профиля (положение линий, интегральную интенсивность, ширину и форму пиков), анализа нестандартных микроструктур, индицирования, а также уточнения параметров решетки.

На рис. 1-1 показаны основные различия между TOPAS и TOPAS P. Заметьте, что метод декомпозиции порошкового образца и индицирования реализуются как в TOPAS, так и в TOPAS P.