1. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 1.- Москва: Мир, 1984.- 303 с.
2. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 2.- Москва: Мир, 1984.- 348 с.
3. Эндрю К., Дайсон Д., Киоун С. Электронограммы и их интерпретация. – Москва: Мир, 1971.- 256 с.
4. Пинес Б.Я. Лекции по структурному анализу. – Харьков: ХГУ, 1967.- 476 с.
5. Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок.- Москва: Мир, 1989.- 342 с.
6. Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел.- Москва: Наука, 1985.- 288 с.
7. Черепин В.Т., Васильев М.А. Вторичная ионно-ионная эмиссия металлов и сплавов.- Киев: Наук. думка, 1975.- 240 с.
Наукове видання
Проценко Іван Юхимович, Чорноус Анатолій
Миколайович, Проценко Сергій Іванович
Прилади та методи дослідження плівкових матеріалів
Навчальний посібник
Дизайн обкладинки І.М. Пазухи
Редактор Н.А. Гавриленко
Комп’ютерне верстання: М.О. Лисенко, І.М. Пазуха, А.О. Степаненко, О.П. Ткач
Підп. до друку 23.09.2007.
Формат 60x84/16. Папір офс. Гарнітура Times New Roman Cyr. Друк. офс.
Ум. друк. арк. 15,35. Обл.-вид. арк. 11,09.
Тираж 200 пр. Вид. № 242.
Зам. №
Видавництво СумДУ при Сумському державному університеті
40007, м. Суми, вул. Р.-Корсакова, 2
Свідоцтво про внесення суб’єкта видавничої справи до Державного реєстру
ДК № 2365 від 08.12.2005.
Надруковано у друкарні СумДУ
40007, м. Суми, вул. Р.-Корсакова, 2.