По причинам возникновения: Δ = [Δ инс, Δ мет, Δ выч ]
· инструментальная Δ инс (погрешность СИТ),
· методическая Δ мет (погрешность метода измерения),
· вычислительная Δ выч (погрешность вычислений).
Пример:
По характеру изменения: Δ = [Δ с, ]
· систематическая Δ с (постоянная или регулярно изменяющаяся погрешность),
· случайная (случайно изменяющаяся погрешность).
По зависимости от значения измеряемой величины: Δ = [Δ ад, Δ мпт, Δ нлн ]
· аддитивная (постоянная) Δ ад,
Δ ад = ± а = const;
· мультипликативная Δ мпт (пропорциональная Хизм),
Δ мпт = ± bХ; δ = ± Δ мпт /X = ± b = const;
· нелинейная Δ нлн (нелинейно зависящая от Хизм)
Δ млт = ± f(Х)
По условиям возникновения: Δ = [Δ нор, Δ доп ]
· основная Δ нор (при нормальных условиях),
· дополнительная Δ доп (при отклонении от нормальных условий).
По зависимости от скорости изменения Хизм: Δ = [Δ ст + Δ дин ]
· статическая Δ ст (при неизменности значения Хизм в процессе измерения);
|
|
· динамическая Δ дин (при изменении значения Хизм в процессе измерения).