Текст 9

Оптика

Оптика – раздел физики, изучающий световые явления и взаимодействие излучения с веществом – поглощение, излучение, рассеяние света, распространение и другое.

Оптика подразделяется на: 1) физическую оптику, предметом которой является выяснение природы света и закономерностей его взаимодействия с веществом; 2) геометрическую оптику – прикладной раздел оптики, рассматривающий законы образования оптических систем, исходя из приближённого представления о световых лучах; 3) физиологическую оптику, охватывающую законы зрительного восприятия, и другие разделы.

Оптические методы принадлежат к числу наиболее мощных методов изучения строения и свойств вещества. Важнейшими производственными отраслями оптики являются: 1) спектроскопия, разрабатывающая методы спектрального анализа; 2) светотехника и 3) оптотехника (техника расчёта и изготовления оптических приборов).

Текст 10

В электронно-зондовом микроанализе спектральный состав рентгеновского излучения обычно исследуют с помощью “брэгговского спектрометра” с кристаллом, который используется в качестве монохроматора, выделяющего одновременно одну длину волны в спектре. Длина волны является функцией угла падения рентгеновских лучей на кристалл. В большинстве микроанализаторов имеются два или три спектрометра, с помощью которых можно регистрировать одновременно соответствующее число элементов. Все детали спектрометров размещены в вакуумном объеме во избежание поглощения рентгеновских лучей в воздухе. Конструкция столика образцов рассчитана на установку нескольких образцов и эталонов.

Оптический микроскоп необходим для визуального выбора интересующих участков поверхности образца и сопоставления результатов анализа с видимой микроструктурой. Система сканирования зонда по образцу с модуляцией яркости пучка в электронно-лучевой трубке и сигналом с выхода рентгеновского спектрометра обеспечивает получение картины распределения элемента на экране трубки. Картина на экране состоит из отдельных точек, каждая из которых соответствует импульсу, возникающему в детекторе при попадании в него рентгеновского фотона. Картина образца в электронах содержит меньше информации, чем изображение в рентгеновских лучах, и ее информация в большей степени характеризует рельеф, нежели состав образца.