2015-08-21
339
В таблице 1-1 дается обзор функциональности системы TOPAS в режиме пользовательского интерфейса (GUI-режим) и режиме запуска. Обратитесь к техническому справочному руководству для получения подробной информации.
Таблица 1-1. Функциональность TOPAS. Функции, отмеченные, как GUI, доступны в GUI-режиме (режим графического пользовательского интерфейса). Функции, отсутствующие в TOPAS P помечены значком =P=.
| Функции | ||
| Методы подбора профиля и их применение | ||
| Подбор одной линии по методу подбора для порошкового образца – Whole Powder Pattern Fitting | GUI | |
| Индицирование (LSI-индекс, LP-поиск) | GUI | |
| Декомпозиция порошкового образца (метод Поули, метод ЛеБейля) | GUI | |
| Уточнение структуры методом Ритвельда | P | GUI |
| Количественный анализ методом Ритвельда | P | GUI |
| Определение структуры (имитация отжига, переворот заряда), отображение электронной плотности | P | |
| Данные измерений и параметры уточнения | ||
| Лабораторные и синхротронные рентгеновские данные, постоянная длина волны и данные нейтронных времяпролетных измерений | GUI | |
| Время подсчета переменных (VCT) | GUI | |
| Данные от одного кристалла | P | |
| Комбинированное уточнение рентгеновских и нейтронных порошковых данных | P | GUI |
| Комбинированное уточнение данных о порошке и одном кристалле1) | P | |
| Отсутствие зависимости от рентгеновских данных (могут подбираться все данные XY) | GUI | |
| Поддержка неэквидистантных шагов по оси X | GUI | |
| Поддержка отрицательных значений по оси X | GUI | |
| Одновременное уточнение по любому числу дифракционных моделей с любым числом пиков, точек данных и параметров | GUI | |
| Уточнение любого числа структур в дифракционной модели с любым числом мест в структуре и атомов в месте | P | GUI |
| Все параметры можно фиксировать, уточнять, связывать и ограничивать | GUI | |
| Количественный фазовый анализ | ||
| Поддержка методов добавок и калибровки | GUI | |
| Количественное определение фаз с частичными или неизвестными кристаллическими структурами | GUI | |
| Коррекция микроабсорбции методом Бриндли (Brindley) | GUI | |
| Анализ степени кристалличности | GUI | |
| Модели формы пиков | ||
| Аналитический подбор профилей | GUI | |
| Функции профиля | ||
| PVII, измененный PV, TCHZ PV, Voigt | GUI | |
| Асимметрия | ||
| SPV, SPVII (для подбора одной линии) | GUI | |
| Простая и полная осевые модели (Чири и Коэльо) (Cheary & Coelho, 1998a, b) | GUI | |
| Коррекция асимметрии по Фингеру (Finger) (Фингер и др., 1994 г.) | GUI | |
| Определение размера кристаллического блока по методу Шеррера (Scherrer) | GUI | |
| Прямой сверточный подход | GUI | |
| Измеряемые функции инструментов | GUI | |
| Фундаментальный подход к параметрам | GUI | |
| Анализ нестандартных кристаллических блоков и анализ деформаций | GUI | |
| Уточняемые параметры инструментов | GUI | |
| Determination of mean sample absorption coefficient and sample thickness | GUI | |
| Tube tails correction | GUI | |
| Support of user-defined convolutions | GUI | |
| Фоновые модели | ||
| Полиномы Чебышева n-го порядка | GUI | |
| Одиночные пики (PV, SPV, PVII, SPVII, Гаусс, Лоренц, Фойхт, FPA) | GUI | |
| Фон типа 1/x | GUI | |
| Модулированный фон | ||
| Модели преимущественной ориентации | ||
| Марч-Доллас (March-Dollase) | GUI | |
| Сферические гармоники | GUI | |
| Анизотропные модели уточнения | ||
| Расширение пиков | ||
| Сдвиги пико | ||
| Преимущественная ориентация | ||
| Температурные факторы | P | |
| Связи и ограничения | ||
| Любые линейные и нелинейные условия | GUI | |
| Функции коррекции Может применяться ко всем параметрам, требующим уточнения | P | |
| Ограничения на длину связи (Антибамп, парабола, минимизация энергии решетки, пользовательский режим) | P | |
| Жесткие и мягкие тела со всеми уточняемыми параметрами | P | |
| Редактор жестких тел | ||
| Процедуры минимизации | ||
| Маркварт | GUI | |
| Метод BFGS | GUI | |
| Линейная минимизация | GUI | |
| Экстраполяция | GUI | |
| Метод разреженных матриц | GUI | |
| Прочее | ||
| Расширяемый язык макросов/ | ||
| поддержка пользовательских параметров уточнения и модели уточнения | ||
| Возможность полностью автоматической работы | ||
| 1) Данные об одном кристалле недоступны в GUI-режиме |
