О п т и к а
Лабораторный практикум
Часть 1
Утверждено
Редакционно-издательским советом университета
в качестве учебного пособия
НОВОСИБИРСК
2007
УДК 535 (076.5)
О-627
Авторский коллектив:
В.Г. Дубровский, Ю.Е. Невский,
В.Ф. Ким, И.И. Суханов
Рецензенты: д-р физ.-мат. наук, проф. В.К. Макуха,
канд. пед. наук, доц. Л.П. Панасенко
Пособие подготовлено на кафедре
прикладной и теоретической физики
О-627 Оптика. Лабораторный практикум. В 2 ч. Ч. 1: учеб. пособие /
В.Г. Дубровский, Ю.Е. Невский, В.Ф. Ким, И.И. Суханов. – Но-
восибирск: Изд-во НГТУ, 2007. – 60 с.
ISBN 978-5-7782-0784-4
Приведено описание шести лабораторных работ по волновой оптике. Каждая работа включает теоретическое введение, в котором подробно рассмотрено исследуемое явление, описание экспериментальной установки и методические указания к выполнению работы.
Предназначено для студентов I – II курсов РЭФ, ФТФ, ФЭН всех специальностей и всех форм обучения.
|
|
УДК 535(076.5)
ISBN 978-5-7782-0784-4 Ó В.Г. Дубровский, Ю.Е. Невский,
В.Ф. Ким, И.И. Суханов, 2007
Ó Новосибирский государственный
|
СОДЕРЖАНИЕ
Р а б о т а № 30. Дифракция света на щели.................................................. 4
Р а б о т а № 31. Измерение показателя преломления
интерференционным методом...................................... 13
Р а б о т а № 32. Измерение длины волны света
и ультразвука дифракционным методом.............. 22
Р а б о т а № 33. Исследование оптических свойств
воздуха с помощью интерферометра
Жамена.............................................................................................. 33
Р а б о т а № 34. Изучение поляризации света и вращения
плоскости поляризации...................................................... 40
Р а б о т а № 35. Линза как элемент, осуществляющий
преобразование Фурье........................................................... 48
Приложения................................................................................................................... 57
|
Р а б о т а № 30
ДИФРАКЦИЯ СВЕТА НА ЩЕЛИ
Цель работы – экспериментально проверить предполагаемую зависимость интенсивности дифрагированного света от угла дифракции, положение дифракционных минимумов и максимумов и соотношение между интенсивностями в различных максимумах.
|
|
Дифракция на щели
Рассмотрим дифракцию монохроматического излучения на щели. Предположим, что параллельный пучок света падает нормально на плоскость щели. Сразу за щелью располагается собирающая линза, а в задней фокальной плоскости этой линзы находится экран. Для анализа дифракционной картины воспользуемся принципом Гюйгенса – Френеля [1, 2]. В соответствии с этим принципом волновую поверхность
в плоскости щели можно разбить на отдельные элементарные площадки, каждую из которых можно считать вторичным источником волн. Световые волны, приходящие на экран от вторичных источников, интерферируют между собой и создают наблюдаемую дифракционную картину.
Для решения нашей задачи площадки, являющиеся вторичными источниками, удобнее всего выбрать в виде узких полосок (шири-
на которых значительно меньше длины волны ), расположенных
в плоскости щели и параллельных длине щели.
Вначале рассмотрим картину, создаваемую на экране излучением одной светящейся полоски. Соответствующая схема показана на рис. 1, где П – светящаяся полоска; Л – линза с фокусным расстоянием ;
Э – экран.
Каждая светящаяся точка излучает сферическую волну. Однако огибающая, т.е. результирующая волновая поверхность от всех точек светящейся линии, имеет цилиндрическую симметрию. Световые лучи, нормальные к волновым поверхностям, расходятся в радиальных направлениях, причем все лучи параллельны плоскости .
Рис. 1
Параллельный пучок падающих лучей, преломляясь, сходится в одну точку задней фокальной плоскости линзы [3]. В частности, падающие лучи, параллельные оптической оси линзы – оси , после преломления сходятся в заднем фокусе линзы . На рис. 1 показаны два таких падающих луча – 1 и 3 и соответствующие им преломленные лучи 1 ¢, 3 ¢.
Направленные под одинаковым углом к плоскости параллельные лучи 2 и 4 образуют пучок, лучи которого параллельны плоскости . Следовательно, преломленные лучи 2 ¢ и 4 ¢ сходятся на экране в точке , расположенной также на оси х.
Таким образом, совокупность всех лучей, проходящих через линзу, сфокусируется в систему светящихся точек на оси х. На экране должна наблюдаться светлая линия вдоль оси х. Эта линия – дифракционная картина, формируемая источником света – бесконечно узкой полоской П в задней фокальной плоскости линзы. Заметим, что при смещении полоски в плоскости, перпендикулярной к оптической оси, так, чтобы она оставалась параллельной оси у, дифракционная картина на экране не изменится. Соответствующая линия по-прежнему будет располагаться на оси х.
Рассмотрим теперь дифракцию на щели. Поставим перед линзой перпендикулярно к ее оптической оси непрозрачный экран и прорежем в нем длинную щель шириной b. Волновую поверхность в плоскости щели мысленно разобьем на n одинаковых узких полосок шириной . На рис. 2 показан случай .
Рис. 2
Рассмотрим систему параллельных лучей, выходящих из центра каждого вторичного источника под углом к оптической оси. Система этих лучей должна сойтись в одну точку , лежащую на оси х в фокальной плоскости линзы , перпендикулярной к оптической оси (на экране). Если вторичные источники в плоскости щели когерентны и колеблются в одинаковой фазе, то разность фаз волн, пришедших в точку , определяется оптической разностью хода соответствующих лучей. При этом следует отметить, что линза обладает важным для нашей задачи свойством: разность фаз между параллельными лучами, прошедшими линзу и сошедшимися в фокальной плоскости, сохраняется. Поэтому оптическая разность хода лучей от соседних источников равна только отрезку , показанному на рис. 2. Соответствующая разность фаз
|
|
. (1)
Если вторичные источники – полоски пронумеровать по порядку от одного края щели к другому, то можно установить закономерность, что разность фаз между колебаниями в точке от волн с n = 2 и n = 1 равна d; от волн с n = 3 и n = 2 равна 2d; от волн с n = 4 и n = 1 равна 3d;... от волн с номером n и с n = 1 равна . Поэтому в точке наблюдения колебание напряженности электрического поля световой волны можно представить суммой ряда n слагаемых
Эта сумма равна
.
Соответствующее доказательство приведено в Приложении к настоящей работе.
Из последнего выражения следует, что амплитуда результирующего колебания будет равна
. (2)
Используя формулу (1), выражение (2) можно записать в виде
. (3)
Учитывая, что и << , выражение (3) преобразуем к виду
. (4)
Произведение обозначим как . Это амплитуда света при , т.е. в фокусе линзы. Тогда
. (5)
Поскольку интенсивность света пропорциональна квадрату амплитуды, то
, . (6)
График зависимости показан на рис. 3 сплошной линией. Штриховой линией показан график той же функции с десятикратным увеличением по оси ординат.
Минимумы интенсивности будут соответствовать направлениям, для которых числитель в выражении (6) равен нулю. Это будет выполняться при условии т.е.
, = 1, 2, 3,... (7)
Между минимумами располагаются максимумы. Самую большую интенсивность свет имеет в центральном максимуме, для которого
q= 0. Последующие максимумы располагаются приблизительно посредине между ближайшими минимумами:
Более точно углы, под которыми наблюдаются эти максимумы, определяются условиями
(8)
|
|
записанными для первых трех максимумов (не считая центрального).
Интенсивности света в центральном и трех последующих максимумах соотносятся как
=1:0,047:0,017:0,0083. (9)
Описание экспериментальной установки
Оптическая схема установки показана на рис. 4. Источником
монохроматического света является лазер Лр. Система линз Л1 и Л2 преобразует расходящийся пучок, излучаемый лазером, в пучок
большего поперечного сечения, но меньшей угловой расходимости.
Рис. 4
Это необходимо для того, чтобы длина освещенной части щели была достаточно большой и выполнялось условие, что длина щели во много раз больше ее ширины. Свет дифрагирует на щели Щ. В фокальной плоскости линзы Л3 создается дифракционная картина. Однако расстояние между соседними максимумами (или минимумами) этой дифракционной картины невелико. Для удобства наблюдения дифракционной картины используется линза Л4, которая создает увеличенное действительное изображение дифракционной картины в плоскости расположения фотоприемника ФП. Фотоприемник смонтирован на отсчетном устройстве, с помощью которого он может перемещаться вдоль линии расположения дифракционной картины, причем перемещение может быть измерено с погрешностью 0,1 мм.
Для того чтобы на результаты измерений не влиял свет, падающий на фотоприемник от посторонних источников, луч лазера модулируется по амплитуде с помощью модулятора М. Модулятор представляет собой крыльчатку, насаженную на ось миниатюрного электромотора. При вращении крыльчатка пересекает лазерный луч, в результате чего на фотоприемник попадает свет в виде периодической последовательности импульсов. С выхода фотоприемника электрические импульсы подаются на вход осциллографа и наблюдаются на его экране. Напряжение на выходе фотоприемного устройства пропорционально интенсивности падающего света.
В работе используется щель с регулируемой шириной. При ширине щели порядка одного миллиметра углы дифракции малы и условие для минимумов, выражаемое формулой (7), имеет вид
.
Лучи, дифрагированные под углом , соберутся в фокальной плоскости линзы Л3 в точку с координатой (см. рис. 2):
, (10)
где – фокусное расстояние этой линзы.
В плоскости фотоприемника наблюдается увеличенное в K раз изображение дифракционной картины. Если в этой плоскости ось X направить вдоль дифракционной картины, а начало координат совместить с положением центрального максимума, то лучи, дифрагированные под углом , соберутся в точке с координатой
. (11)
Поскольку напряжение на выходе фотоприемника пропорционально интенсивности падающего на фотоприемник света , график зависимости подобен графику зависимости интенсивности света . Максимумы и минимумы на этих графиках должны наблюдаться в точках с одними и теми же координатами. Соотношения между отдельными максимумами на обоих графиках должны быть одинаковыми. График зависимости от X можно построить на основании экспериментальных данных. Если с помощью этого графика определить координаты X дифракционных максимумов и минимумов, то соответствующие углы дифракции можно определить по формуле
Х / g, , (12)
вытекающей из выражения (11).
Задания
1. Измерить с помощью осциллографа напряжение на выходе фотоприемника для ряда значений координаты , измеренной по отсчетному устройству фотоприемника. Полученные данные занести в таблицу. Число измерений должно быть достаточным для того, чтобы зависимость от включала в себя центральный максимум и максимумы ±1 и ±2 порядков, а также минимумы ±1, ±2 и ±3 порядков.
2. Определить координату центрального максимума. Принять это положение фотоприемника за нуль новой системы отсчета и перейти к координатам новой системы по формуле
.
3. Построить график зависимости от X.
4. Определить координаты минимумов ±1, ± 2 и ±3 порядков. Определить координаты максимумов ±1 и ±2 порядков. Оценить погрешность в определении этих координат.
5. По формуле (12) рассчитать углы для полученных в п. 4 минимумов и максимумов. Оценить погрешность в определении этих углов. Значение коэффициента указано в паспорте установки.
6. Рассчитать углы для тех же минимумов и максимумов по формулам (7) и (8) и сравнить с полученными в п. 5.
7. Из графика найти отношение напряжений для максимумов ±1 и ±2 порядков. Оценить погрешность определения этих отношений исходя из погрешности измерительного прибора.
8. Полученное из эксперимента отношение напряжений сравнить с теоретическим, определяемым формулой (9).
Контрольные вопросы
1. Какой вид имеет дифракционная картина, создаваемая в фокальной плоскости линзы линейным источником когерентного излучения? Почему?
2. Объясните поведение дифракционной картины при параллельном переносе линейного источника в плоскости, перпендикулярной к оптической оси.
3. Какой вид имеет функция зависимости интенсивности дифрагированного на щели света от угла дифракции?
4. При каких углах дифракции наблюдаются минимумы и максимумы интенсивности света, дифрагированного на щели?
5. Как выглядела бы дифракционная картина, если бы источником света была линейная нить лампы накаливания?
6. Почему в оптической схеме прибора используется модулятор интенсивности света?
Литература
1. Савельев И.В. Курс общей физики. В 5 книгах. Кн. 4: Волны. Оптика. – М.: Астрель, 2001.
2. Трофимова Т.И. Курс физики. – 4-е изд. – М.: Высшая школа, 1997.
3. Суханов И.И. Геометрическая и дифракционная теория оптического изображения: Учеб. пособие. – Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2003. – 92 с.
|