Сертификационное испытание на повреждение лазером

Сертификационное испытание на повреждение лазером

1. Речь идет о "экзаменационном" или "неудачном" испытании, предназначенном для отделения хорошей и плохой оптики.

2. В нем используется множественное лазерное импульсное облучение с постоянной флуктуацией, представляющей интерес.

З. Один или несколько участков могут подвергаться облучению в течение определенного времени.

4. Если повреждения не наблюдаются, то после испытания допускается дальнейшее использование оптики.

5. В случае повреждения лазером данный компонент не отвечает требуемым спецификациям и в любом случае не может использоваться.

24-ый слайд:

Сертификационное испытание на повреждение лазером (продолжение) + рисунок

Как правило, 5 - 10 участков облучаются как можно большим пучком, чтобы обеспечить облучение статистически значимой площади оптики (предпочтительно > 1.00 мм по уровню 1/e²).

25-ый слайд:

Параметры импульсов, используемых в ультракоротких импульсных лазерах

· Модемные замкнутые генераторы - ~75 МГц, 10 фс - 1000 фс,

· Лазеры в режиме блокировки с CPA в CPA: -1 Гц - 1 МГц, 100 пс-2 нс, на выходе: - 1 Гц - 1 МГц, 10 фс - 1000 фс,

· В лазерных системах с OPCPA: ступень усиления: 1 Гц - 1кГц, 1 пс - 2 нс, на выходе: - 1Гц - 1кГц, 10 фс - 1000 фс,

· Для измерений LIDT требуются лазеры с высокой временной, энергетической, спектральной, указывающей устойчивостью и идентичными параметрами, в которых используются оптические компоненты.

26-ой слайд:

Схема экспериментальной установки (Рисунок)

27-ой слайд:

Пространственные профили пучка на целевой плоскости (Фото)

28-ой слайд:

Профили временного пучка (2 рисунка)

(Кривая автокорреляции фемтосекундного лазера)

(Наносекундный лазер: сигнал, получаемый фотодиодом)

29-ый слайд: