Лабораторная работа № 2. Исследование электрической проводимости тонких пленок из однослойных УНТ

Исследование электрической проводимости тонких пленок из однослойных УНТ

Целью настоящей работы является овладение одним из наиболее

широко применяемых методов определения проводимости полупроводни-

ков - четырёхзондовым методом.

Введение

Одним из основных электрофизических параметров вещества являет-

ся его удельное сопротивление ρ (Ом⋅см) или обратная ему величина -

удельная электрическая проводимость (Ом-1⋅см-1).

Методы измерения удельного сопротивления могут быть разделены

на две группы:

1. Измерения с присоединением к образцу токопроводящих или измери-

тельных контактов.

2. Бесконтактные измерения.

В настоящей работе используется первый метод.

В большинстве случаев в месте контакта измерительного зонда с по-

лупроводником возникает так называемая контактная разность потенциа-

лов, которая оказывает влияние на результаты измерений. В связи с этим,

величина сопротивления полупроводника, как правило, не может быть из-

мерена при простом включении его в цепь омметра. Поэтому методика из-

мерения удельного сопротивления должна обеспечивать либо учёт, либо

компенсацию этой дополнительной разности потенциалов.

Кроме этого, необходимо учитывать то обстоятельство, что на ре-

зультаты измерений могут влиять размеры и форма образца.

Наиболее распространённым методом определения удельного сопро-

тивления полупроводников (позволяющим учесть вышесказанное) являет-

ся четырёхзондовый метод.