Сканирующий СКВИД-микроскоп (ССМ-77)

Предназначен для визуализации и количественных измерений локальных магнитных полей рассеяния высокотемпературных сверхпроводниковых тонкопленочных структур, магнитных пленок и магнитных микроструктур при температуре кипения жидкого азота, Т=77 К. Результаты измерений позволяют определить распределение вектора намагниченности исследуемого объекта.

СОСТАВ ССМ-77

· Сквид – магнитометр на основе высокотемпературного СКВИДа;

· азотный криостат;

· магнитные пермаллоевые экраны;

· цифровой и аналоговый блоки;

· персональный компьютер;

· специальное программное обеспечение для сбора данных, математической обработки и отображения полученных результатов.

Основные параметры ССМ-77

В сравнении с миниатюрными датчиками Холла, магнитооптическими методами и магнитносиловой микроскопией, СКВИД – микроскопия отличается уникальной чувствительностью и наименьшим обратным влиянием на исследуемый объект.

СКВИД-микроскопы могут регистрировать магнитные поля величиной менее 100 пТ. Они могут быть использованы в материаловедении, нанотехнологии, микроэлектронике и криоэлектронике, а также для фундаментальных исследований в области физики конденсированных сред.

ССМ-77 был разработан и изготовлен на физическом факультете МГУ в кооперации с ИЗМИРАН в 1994 г. и является единственным в России действующим макетом сканирующего СКВИД-микроскопа. Подобные микроскопы созданы в США, Японии, Швеции и Германии.

Физические основы создания микро- и нано-электромеханических систем (МЕМС)

Явление магнитного резонанса используется для обнаружения и измерения электрических и магнитных взаимодействий электронов и ядер в макроскопических количествах вещества. Это явление обусловлено парамагнитной ориентацией электронного и ядерного токов внешн

Электромеханическая память

Вернуться в оглавление: Физические явления