Содержание. Перечень сокращений, условных обозначений символов, единиц, терминов

Перечень сокращений, условных обозначений символов, единиц, терминов.

Общие данные об объекте исследования.

Основная (аналитическая) часть.

1. Тематический поиск патентной документации.

2. Исследование новизны разрабатываемого объекта.

Заключение.

Приложение 1 Задание № 1на проведение патентных исследований.

Приложение 2 Регламент патентных исследований № 1

Приложение 3 Отчет о поиске


Перечень сокращений, условных обозначений символов, единиц, терминов.

Бюл. – бюллетень.

Раздел G – Физика.

Раздел Н – Электричество.

ВИНИТИ – Всероссийский институт научной и технической информации

ГПНТБ – Государственная публичная научно-техническая библиотека

ФИПС – Федеральная служба по интеллектуальной собственности

НТИ – научно-техническая информация

УДК – универсальная десятичная классификация

МПК – международная патентная классификация

ПО – промышленные образцы.

ПМ – полезные модели.

АС – авторское свидетельство.

М – Москва.

С-П – Санкт-Петербург.


Общие данные об объекте исследования

Объектом настоящего патентного поиска являются устройства, способные формировать и регулировать сложные тестовые сигналы. Как правило, регулирование сформированного сигнала, к примеру, напряжения, зачастую осуществляется посредством ЛАТР-ов, которые имеют большие массогабаритные показатели или других различных регуляторов, имеющих свои достоинства и недостатки. Однако безусловный интерес представляет разработка устройства с цифровым регулированием, способного формировать сложные тестовые сигналы.

При испытании силовых полупроводниковых приборов одними из важных остаются вопросы повышения качества и стабильности и точности процесса тестирования.

Согласно теме дипломного проекта необходимо разработать устройство, формирующее и регулирующее сложные тестовые сигналы, использующиеся при испытаниях силовых полупроводниковых приборов.

Устройство должно быть более простым по сравнению с известными аналогами и обеспечивать более высокую точность и надежность при испытаниях приборов и исследовании их характеристик.


Понравилась статья? Добавь ее в закладку (CTRL+D) и не забудь поделиться с друзьями:  



double arrow
Сейчас читают про: