Вопрос 27. Опыты по дифракции электронов и др частиц. Электронография Нейтронография. Эл микроскоп

К Дэвиссон и Л Джермер впервые наблюдали дифракцию эл-нов на монокристалле никеля, Дж Дж Томсон и незав от него П С Тартаковский – на мет фольге. Сравнивая дифракционную картину, полученную от взаимодейтсвия эл-нов с поликристаллической фольгой, можно заметить сходство с дифракцией э-нов и x-ray лучей. Способностью дифрагировать обладают и др частицы, как заряженные (протоны, ионы и др), так и нейтр (нейтроны, атомы, мол-лы). Аналогично рентгеноструктурному анализу можно применять дифракцию частиц для определения упорядоченного или разупорядоченного расположения атомов и молекл в-ва и для оценки параметров крист решеток. В наст время примен методы электронографии (дифракция э--нов) и нейтронов (дифракция нейтронов).

Опыты по дифракции пусков эл-нов оч малой интенсивности, те как бы отдельных частиц, показали, что при этом электрон не «размазывается» по разным направлениям, а ведет себя как целая частица. Однако вероятность в рез-те отклонения эл-на по отд направлениям в рез-те взаимодействия с объектом дифракции различная. Наиб вероятно попадание эл-нов в те места, кот по расчету соотв мах дифракции, менее вероятно их попадание в места мин. Те вол св-ва присущи не только коллективу эл-нов, но и каждому эл-ну в отдельности.

Эл микроскопия. Предел разрешения оптич микроскопа в осн опред предельным значением длины волны света, воспринимаемого глазом чела. Подставив в формулу пред разр значение длины волны де Бройля, найдем предел разрешения эл микроскопа, в кот изображение предмета форм эл пучками: Z=0,5h/[(√2emU)nsin(u/2)]. Предел разрешения эл микроскопа зав от усрок напряжения и можно добиться, чтобы он был значительно меньше, а разрешающая с-ть – значительно больше, чем у оптического. Практически даже с помощью самого хорошего эл микроскопа можно достичь предела разрешения порядка 10^{-10 м. Применение ускоряющего напряжения больше 100кВ, хотя и повышает разрешающую сп-ть, но связано с некот сложностями, в частности происходит разрушение исслед объекта эл-ми, им большую с-ть. К достоинствам эл микроскопа сл отнести бол раз сп-ть, возможность рассм крупные молекулы, возможность изм ускор напряж, и след, предел разрешения и сравнительно удобное управление потоком эл-нов с помощью маг и эл полей.}