Средства тестирования

Средства защиты и тестирования.

"Защита" в данном случае подразумевает два аспекта.

Один - это защита ПО[АПН2] контроллера от несанкционированного доступа. Контроллер может иметь средства, исключающие возможность доступа к внутреннему ПЗУ микросхемы, после того, как программа отлажена и записана в накристальное ПЗУ.

Второй аспект - это возможности защиты от нештатных ситуаций, которые могут сделать контроллер/программу неработоспособной, но которые трудно предусмотреть заранее. К таким ситуациям, например, относятся:

1) Зависания программы вследствие ожидания событий, которые (по каким-либо причинам) не могут произойти. Типовой способ борьбы с зависаниями - использование сторожевого таймера.

2) электрические конфликты на общих линиях, таких как линии канала или линии последовательных портов, к которым подключено несколько устройств, способных передавать данные. При попытке нескольких устройств одновременно вести передачу может возникнуть не только логический сбой, но и электрическое (необратимое) повреждение схемных элементов.

Контроллер может содержать аппаратные средства, распознающие возникновение подобных ситуаций и вызывающие определенную реакцию на них. Обычный вид реакции - переключение в режим, исключающий возможность необратимого повреждения (например переключение двунаправленного вывода в режим "вход") и (или) запрос прерывания, позволяющий программе "узнать" о возникновении нештатной ситуации.

С ростом степени интеграции БИС и их функциональной сложности все более трудной становится проверка функционирования как в процессе производства БИС, при настройке разрабатываемого изделия так и в процессе его эксплуатации. Этот вопрос оказался настолько важным, что при IEEE был создан комитет специалистов JTAG (JointTestAccess (или Actions)Group - группа специалистов по встроенным средствам тестирования[2]). Этот комитет вырабатывает рекомендации и стандарты по встроенным средствам тестирования и идентификации БИС, позволяющим организовать их проверку на всех стадиях изготовления и эксплуатации.

Средства тестирования, реализованные в микроконтроллерной БИС, могут позволять:

1) проводить проверку функционирования отдельных узлов контроллера,

2) определять тип и версию микросхемы,

3) независимо от функционирования основного оборудования получать информацию о текущем состоянии внутренних узлов и о сигналах на внешних выводах,

4) подключать к отлаживаемому микрокомпьютеру внешний отладочный комплекс (обычно это стандартная персональная рабочая станция с соответствующим программным обеспечением – интегрированной средой разработки и отладки), и производить все необходимые отладочные действия.

[1] можно организовать систему межкристальной связи со всеми теми же свойствами, за исключением параллельной передачи данных, используя последовательные порты (см. далее???)

[2] Это мой вольный перевод. АПН

[АПН1] Хорошо бы сделать "глоссарий", перечень используемых терминов

[АПН2] Надо сделать список сокращений