Для определения типа кристаллической решетки
Кристаллы помещают в рентгеновское излучение с определенной длиной волны, на пленке возникает дифрактограмма. Если длина волны излучения находится в пределах расстояний между плоскостями решетки кристалла, то искаженные на плоскостях решетки лучи покажут разность хода, которая благодаря интерференции приводит к усилению или затуханию. |
Монокристаллы исследуются методом Лауэ, поликристаллы – методом Дебая-Шеррера; нерегулярное распределение небольших кристаллов ведет к одновременной дифракции на многих плоскостях. Дифрактограмма порошка золота (кубическая решетка), полученная по методу Дебая-Шеррера |
Дифракция рентгеновых лучей