Студопедия
Обратная связь


Авиадвигателестроения Административное право Административное право Беларусии Алгебра Архитектура Безопасность жизнедеятельности Введение в профессию «психолог» Введение в экономику культуры Высшая математика Геология Геоморфология Гидрология и гидрометрии Гидросистемы и гидромашины История Украины Культурология Культурология Логика Маркетинг Машиностроение Медицинская психология Менеджмент Металлы и сварка Методы и средства измерений электрических величин Мировая экономика Начертательная геометрия Основы экономической теории Охрана труда Пожарная тактика Процессы и структуры мышления Профессиональная психология Психология Психология менеджмента Современные фундаментальные и прикладные исследования в приборостроении Социальная психология Социально-философская проблематика Социология Статистика Теоретические основы информатики Теория автоматического регулирования Теория вероятности Транспортное право Туроператор Уголовное право Уголовный процесс Управление современным производством Физика Физические явления Философия Холодильные установки Экология Экономика История экономики Основы экономики Экономика предприятия Экономическая история Экономическая теория Экономический анализ Развитие экономики ЕС Чрезвычайные ситуации ВКонтакте Одноклассники Мой Мир Фейсбук LiveJournal Instagram 500-летие Реформации

Загрузка...

Методы исследования наноматериалов и наноструктур

<== предыдущая статья | следующая статья ==>

 

Атомная структура наноструктур исследуется с использованием про­свечивающего электронного микроскопа в режиме микродифракции.

Для пре­дотвращения радиационного повреждения пленок электронным пучком дифракционная картина ре­гистрируется при низкой интенсивности пучка с использованием высокочувствительной видео­камеры с зарядовой связью.

Электронная структура пленок исследуется методами фотоэлектронной спектроскопии, оже-электронной спектроскопии и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов.

 

Электронная микроскопия. На рис. 2 представлены типичные картины электронной дифракции от пленок углерода, осажденных на поверхность NaCl.

 

Оже-электронная спектроскопия является од­ним из методов исследования электронной структуры валентной зоны и химического со­става материалов. Наиболее важная информа­ция о типе химической связи между атомами углерода содержится в положении и форме CKVV-линии Оже-спектра углерода.

Для сравнения там же в нижней части рисунка представлены рассчитанные положения уровней энергий электронов для линейных цепочек углерода С„, п = 2,3,... ,8.

 

 

Электронная структура графита существенно отличается от структуры одномерного углерода. Данные электронной спек­троскопии подтверждают линейно-цепочечную структуру полученных пленок углерода.

Атомно-силовая микроскопия. Ори­ентированные пленки sp1-углерода толщиной 4 нм изучались в атомно-силовом микроскопе (АСМ). На рис. 8,а показана картина, полученная в АСМ в режиме измерения высоты. Хорошо видна гексагональная решетка, сформированная атомами углерода на концах цепочек. Параметр гексагональной решетки a - 0,486 нм.

 

Туннельная микроскопия. Свободная пленка sp1-углерода толщиной 27 нм помещалась на пленку золота. Толщина пленки определялась в атомно-силовом микроскопе по высоте ступеньки на краю пленки. На рис. 8,6 показано изображе­ние поверхности sp1-углеродной пленки, полу­ченное в сканирующем туннельном микроскопе (СТМ). Для сравнения справа показано СТМ-изображение пленки золота. В соответствии с АСМ-данными поверхность этой пленки исклю­чительно гладкая. В противоположность данным АСМ, изображение, полученное в СТМ, выявляет структуру, относящуюся к подложке, состоящей из островков золота.

 

<== предыдущая статья | следующая статья ==>





 

Читайте также:

Классификация рецепторов. Мономодальные и полимодальные рецепторы. Ноцицепторы (болевые рецепторы). Экстерорецепторы. Интерорецепторы.

Механорецепторы

Оптические иммуносенсоры

Электромеханическая память

Стационарный и нестационарный эффекты Джозефсона и применение их в измерительной технике

Принцип работы сканирующего туннельного микроскопа

Электронный парамагнитный резонанс (ЭПР)

Электронно-оптические устройства

Квантовый осциллятор на базе электромеханического резонатора

ОСНОВНЫЕ ТИПЫ АКУСТОЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ Линии задержки

Физические основы применения явления сверхпроводимости в измерительных устройствах

Особенности физики нелинейных процессов в сложных динамических системах

Закон Вебера

Вернуться в оглавление: Физические явления

Просмотров: 2762

 
 

54.166.157.192 © studopedia.ru Не является автором материалов, которые размещены. Но предоставляет возможность бесплатного использования. Есть нарушение авторского права? Напишите нам.