Студопедия
Обратная связь


Авиадвигателестроения Административное право Административное право Беларусии Алгебра Архитектура Безопасность жизнедеятельности Введение в профессию «психолог» Введение в экономику культуры Высшая математика Геология Геоморфология Гидрология и гидрометрии Гидросистемы и гидромашины История Украины Культурология Культурология Логика Маркетинг Машиностроение Медицинская психология Менеджмент Металлы и сварка Методы и средства измерений электрических величин Мировая экономика Начертательная геометрия Основы экономической теории Охрана труда Пожарная тактика Процессы и структуры мышления Профессиональная психология Психология Психология менеджмента Современные фундаментальные и прикладные исследования в приборостроении Социальная психология Социально-философская проблематика Социология Статистика Теоретические основы информатики Теория автоматического регулирования Теория вероятности Транспортное право Туроператор Уголовное право Уголовный процесс Управление современным производством Физика Физические явления Философия Холодильные установки Экология Экономика История экономики Основы экономики Экономика предприятия Экономическая история Экономическая теория Экономический анализ Развитие экономики ЕС Чрезвычайные ситуации ВКонтакте Одноклассники Мой Мир Фейсбук LiveJournal Instagram


Методы исследования наноматериалов и наноструктур

<== предыдущая статья | следующая статья ==>

 

Атомная структура наноструктур исследуется с использованием про­свечивающего электронного микроскопа в режиме микродифракции. Для пре­дотвращения радиационного повреждения пленок электронным пучком дифракционная картина ре­гистрируется при низкой интенсивности пучка с использованием высокочувствительной видео­камеры с зарядовой связью.

Электронная структура пленок исследуется методами фотоэлектронной спектроскопии, оже-электронной спектроскопии и спектроскопии характеристических потерь энергии электронов.

Электронная микроскопия. На рис. 8.10 представлены типичные картины электронной дифракции от пленок углерода, осажденных на поверхность NaCl.

Рис. 8.10 Картины электронной дифракции углеродных пленок: а – толстая пленка; б – толстая пленка.

Оже-электронная спектроскопия является од­ним из методов исследования электронной структуры валентной зоны и химического со­става материалов. Наиболее важная информа­ция о типе химической связи между атомами углерода содержится в положении и форме CKVV-линии Оже-спектра углерода.

Рис. 8.11 Энергитическая спектральная характеристика и Оже-спектр углеродной пленки (сплошная линия), графита (пунутир) и алмаза (штрих-пунктир).

Электронная структура графита существенно отличается от структуры одномерного углерода. Данные электронной спек­троскопии подтверждают линейно-цепочечную структуру полученных пленок углерода.

Атомно-силовая микроскопия. Ори­ентированные пленки sp1-углерода толщиной 4 нм изучались в атомно-силовом микроскопе (АСМ). На рис. 8.12,а показана картина, полученная в АСМ в режиме измерения высоты. Хорошо видна гексагональная решетка, сформированная атомами углерода на концах цепочек. Параметр гексагональной решетки a - 0,486 нм.

Рис. 8.12 Струтура поверхности углеродной пленки, полученная с помощью АСМ.

<== предыдущая статья | следующая статья ==>

 

Читайте также:

Растровый (сканирующий) электронный микроскоп

Квантовый осциллятор на базе электромеханического резонатора

Устройство и принцип работы атомного силового микроскопа

Квантовый эффект Холла

Эффект Мейснера

Введение

Архитектура кантилеверных датчиков и систем контроля за положением кантилеверов

Особенности реализации нелинейных процессов в системах с хаотической динамикой

Основы геометрической электронной оптики

Ядерный гамма-резонанс

Принципы построения, структуры и режимы работы осцилляторных систем с регулярной динамикой

Эффект Штарка

Вернуться в оглавление: Современные фундаментальные и прикладные исследования в приборостроении

Просмотров: 1868

 
 

© studopedia.ru Не является автором материалов, которые размещены. Но предоставляет возможность бесплатного использования. Есть нарушение авторского права? Напишите нам. Ваш ip: 54.92.136.230