Фотографирование рельефа следов

Фотографическое изображение передает информацию о релье­фе трехмерного объекта соответствующим распределением свето­тени на плоскости. По нему, однако, невозможно составить пред­ставление об истинных геометрических параметрах запечатленных деталей. Равные по высоте, но разные по форме элементы оелье-фа в виде острых выступов или цилиндрических наплывов при од­ностороннем освещении могут создавать на пленке одинаковые соотношения плотностей. Поэтому часть полезной информации утрачивается из-за несовершенства фотографической аппаратуры и методов съемки, в частности на участках недодержек и передер­жек. Однако при трасологических исследованиях изучение формы и размеров отдельных деталей имеет важное значение.

Количественные характеристики рельефа объекта, формы и размеров его отдельных частей в определенных плоскостях (сече­ниях) дает метод профилирования. Изображение рельефа, полу­чаемое в виде кривой на плоскости, называется профилограммой. В судебной экспертизе широко распространены методы оптического и фотоэлектрического изучения срезов полимерных копий, светово­го сечения профиля и его теневой проекции.

Наиболее прост метод получения профилограмм с помощью по­лимерных копий (реплик). Копии рельефа получают посредством нанесения полимерных материалов на поверхность объекта. Ис­пользуются смеси силиконовых паст с катализатором, например «Виксинт К-18», воспроизводящие рельеф исследуемой поверхно­сти с точностью до 0,001 мм. После полимеризации реплику отде­ляют от поверхности и рассекают на срезы толщиной 0,3-0,6 мм для получения профилей. Для динамических следов срезы делают перпендикулярно направлению движения следообразующего объ­екта. Срезы накладывают на влажную поверхность отфиксирован-ного эмульсионного слоя фотопластинки, на которой они после вы­сыхания закрепляются. Увеличенное изображение профиля следа получают при проекционной печати, либо в проходящем свете на макро- или микрофотографических установках ФМН-2 и «Уларус».

Фотоэлектрический метод изучения срезов полимерных копий основан на измерении плотностей почернения полученных изобра­жений с помощью микрофотометров и других фотоэлектрических приборов.

Метод светового сечения профиля позволяет получать про-филограммы с самого объекта, а не с его копии. Прибор для полу­чения светового сечения профиля состоит из осветительной сис­темы, узла установки объекта и фотокамеры. Исследуемый объект закрепляют таким образом, чтобы его поверхность располагалась под углом 60° к оптической оси фотокамеры. Для освещения ис­пользуют световую полосу шириной около 0,1 мм, направляемую под тем же углом. Из светового потока источника ее выделяют с помощью специальной щелевой диафрагмы и проецируют на фото­графируемый участок посредством дополнительной линзы микро­осветителя. Искривляясь на элементах рельефа, световая полоса дает представление о его форме, а увеличенное изображение про-филограммы создают приборы для макро- и микросъемки (рис. 184).

Метод теневой проекции профиля является разновидностью предыдущего метода. Схема установки для его осуществления по­казана на рис. 185. По отношению к базовой она включает в себя узел установки микротомного ножа, который размещают на иссле­дуемом участке перпендикулярно направлению трасс на высоте не более 1 мм. Свет от источника проходит через щелевую диафраг­му, изображение которой проецируется линзой микроосветителя на кромку ножа, образуя теневую проекцию, соответствующую неров­ностям рельефа. Для изучения рельефа объекта методом теневой

проекции профиля предназначены специальные микроскопы типов МТ, ТСП-4, приборы ФМН-2, МБС-2, МС-51, которые кроме фото­камеры включают специальную осветительную систему, узлы уста­новки объекта и микротомного ножа.

Рис. 184. Схема получения профиля Рис. 185. Схема получения профиля

следов методом светового сечения: следов методом теневой проекции:

1 — фотокамера; 2— щелевая 1 — фотокамера; 2 — осветитель;

диафрагма; 3 — осветитель; 3 — нож; 4 — объект;

4 — объект; 5 — подставка для объекта; 5 — подставка для объекта
6 — профилограмма