1. Рассчитать емкости образцов исследуемых конденсаторов на основании геометрических замеров при условиях соответствия толщины воздушных зазоров между обкладками толщинам исследуемых диэлектриков.
2. Измерить емкости и tgδ экспериментальных конденсаторов с различными диэлектрическими материалами.
3. Рассчитать диэлектрические проницаемости исследуемых материалов.
4. Снять зависимости изменения емкостей C и tgδ от температуры в диапазоне от 0 до 100 ºС для заданных преподавателем образцов конденсаторов, серийно выпускаемых промышленностью.
5. Построить графики зависимостей С = f(Т,ºС); tgδ = f(T,°С); ТKC = f(T,ºС), сделать их сравнительный анализ, выводы связать с типами конденсаторов.
6. Определить среднее значение ТКС на исследованном интервале температур для всех испытаных конденсаторов.
7. Найти удельные потери и коэффициенты диэлектрических потерь исследованных материалов на напряжении 100 В при частоте 50 Гц.
Содержание отчета
1. Титульный лист;
2. Цель работы и краткая теория (1-2 стр.);
|
|
3. Исходные данные и данные эксперимента;
4. Рассчет диэлектрических проницаемостей исследуемых материалов экспериментальных конденсаторов;
5. Графики зависимостей С = f(Т,ºС); tgδ = f(T,°С); ТKC = f(T,ºС) для заданных преподавателем образцов конденсаторов и их сравнительный анализ;
6. Расчет среднего значения ТКС на исследованном интервале температур для всех испытаных конденсаторов;
7. Расчет удельных потерь и коэффициентов диэлектрических потерь исследованных материалов на напряжении 100 В при частоте 50 Гц;
8. Выводы.