Мікроскопи інтегра та Alpha300 s

Розглянемо декілька і інших не менш цікавих СБОМ мікроскопів.

ІНТЕГРА Спектра являється вимірювальний комплекс на базі АСМ, СБОМ, конфокальної флуоресцентної мікроскопії та зондово-посиленої КР спектроскопії з граничною роздільною здатність на рівні 10 нм (рис. 3.8) [14].

Рисунок 3.8 – Мікроскоп ІНТЕГРА Спектра [14]

Мікроскоп підтримує два основних методів СБОМ: (I) на основі кварцового волокна зондів, (II) на основі датчиків кремнієвого кантилівери. Підтримуються всі режими: передача, збір, відображення. Підтримується виявлення всіх сигналів: інтенсивність лазерного випромінювання, інтенсивність флуоресценції, спектроскопії СБОМ літографії (векторних, растрових) [15].

Структура оптоволокна в даному мікроскопі наведена на рисунку 3.9, результати сканування об’єктів на рисунках 3.10, 3.11.

Рисунок 3.9 – СЕМ зображення оптичного волокна перетину, що показує фотонні структури кристала в серцевині волокна [15].

а) б)

Рисунок 3.10 – Отримання зображення СБОМ полімеру з зернистою структурою, розділених приблизно на 40 нм (а) та мітохондрій (біологічний об'єкт) пофарбованих з FITC-міченими антитілами (б) [15]

а) б)

Рисунок 3.11 – Топографія АСМ (а) та СБОМ зображення (б) ГРК підкладки Au наноалмазів масиву на кварці з період структури 200 нм та роздільною здатністю ~ 50 нм [15]

ІНТЕГРА Соларіс – СБОМ, призначений для досліджень оптичних властивостей з роздільною здатністю вище дифракційної межі (рис. 3.12а). СБОМ дає можливість вивчати оптичні властивості зразка: відображення, пропускання, розсіювання з просторовою роздільною здатністю до 50 нм. Роздільна здатність ІНТЕГРА Соляріс, яке визначається розміром апертури оптичного зонда (отвори в металевому покритті на вістрі оптоволокна, що проводить лазерне випромінювання) значно перевершує обмежену дифракційною межею роздільну здатність звичайного оптичного мікроскопа.

а) б)

Рисунок 3.12 – Мікроскопи ІНТЕГРА Соларіс (а) та Alpha300 S (б) [16,17]

Оскільки мікроскоп дозволяє вивчати оптичні властивості зразка за межею дифракції, тому знаходить застосування при проведенні різних досліджень:

· біологічні об'єкти;

· контроль якості поверхонь оптичних деталей;

· випромінюючі напівпровідникові структури;

· нанооптичні і інтегрально-оптичні елементи;

· наноелектронні елементи (спектри квантових точок) [16].

Alpha300 S – СБОМ з унікальними кантиліверами (рис. 3.12б). Даний мікроскоп є унікальним поєднанням (в рамках одного приладу) переваг СБОМ, конфокального і атомно-силового мікроскопів. Результати дослідження об’єктів наведені на рисунку 3.13 [17].

Рисунок 3.13 – Результати отримані Alpha300 S [17]:

01 – нитки ДНК (конфокальна флуоресценція);

02 – зображення полістирольних сфер, отримані методом СБОМ в АС режимі;

03 – рельєф поверхні латексу;

04 – поверхнева плазмонно-поляритонна хвиля

Перемикання між різними режимами здійснюється простим обертанням турелі з б'єктивами. У Alpha300 S застосовуються унікальні СБОМ-кантилівери для оптичної мікроскопії з просторовою роздільною здатністю нижче дифракційнї межі [17].

Висновки

7 шт.

Список використаних джерел

1. microscopy.doc

2. Вікі

3. +кратко и ясно++Сканирующий оптический микроскоп ближнего поля

4. + 1метод подробно +РАЗРАБОТКА СКАНИРУЮЩЕГО БЛИЖНЕПОЛЬНОГО ОПТИЧЕСКОГО МИКРОСКОПА В РЕЖИМЕ НА ОТРАЖЕНИЕ

5. 3.3 Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ)

6. Эмуляторный комплекс _ Теория _ Ближнеполевая оптическая нанолитография

7. http://www.ntmdt.ru/spm-principles/view/shear-force-microscopy

8. http://www.ntmdt.ru/spm-principles/view/transmission-mode

9. http://www.ntmdt.ru/spm-principles/view/reflection-mode