Способы измерения основных фотометрических параметров

1 – источник излучения, 2 –фотометрический шар; 3 – диафрагма, 4 – экран, исключающий прямое попадание лучей на приёмник, 5 – приемник излучения.

Сигнал определяется выражением:

V_ф = φ Sv Ф.

Очевидно:

Ф / Ф_эт = (∫Ф_λ S_λ ^отн dλ / ∫Ф_λ dλ) / (∫Ф_λ эт S_λ ^отн dλ/ ∫Ф_λ эт dλ)

Если спектры эталона и объекта различаются не значимо, выражение можно представить в упрощенной форме:

Ф = Фэт(V_ф /V_{ф эт})

Освещенность измеряется косвенным методом, учитывающим результаты измерения потока Ф и площади приемника

Р_пр: E= Ф/Р_пр,

откуда следует

Еи = Еэт (Vи/Vэт).

Компенсационный метод: регулируется площадь входной диафрагмы, чтобы уравновесить разницу сигналов:

Vэт = Sv Фэ = Sv Еэт Рэт;

Поэтому

Vи = Sv Еи Ри

Тогда

Еи = Еэт (Ри/Рэт ).