Осциллографические методы измерения параметров сигналов. Погрешности измерений

1) U=Kотк[V/дел]*ly[дел]*Mo; Мо=1;10

2) t=Кр[c/дел]*lx[дел]*Мр

Погрешности

Систематические:

1)

Uизм*b=Uдейст

2)

3) случайная визуальная погрешность

Δобщ = 0,4*q/l

q – ширина луча(из пасп. данных)