У СТМ есть недостаток: с его помощью можно изучать только материалы, хорошо проводящие электрический ток. Такое ограничение вытекает из самого принципа работы СТМ – для эффективного туннелирования (просачивания) электронов через зазор между поверхностью исследуемого образца и чувствительным элементом прибора (иглой) на поверхности должно быть много электронных состояний. Поэтому когда исследователи принялись изучать с помощью СТМ непроводящие вещества, они были вынуждены покрывать такие вещества металлической пленкой либо «пришивать» их к поверхности проводника, например золото. В атомно-силовом микроскопе (АСМ), созданном в 1986 г., измеряется сила, действующая на зонд со стороны исследуемого образца, и анализируется профиль его поверхности. Это позволяет использовать АСМ для изучения поверхностей любых материалов. Обычно процесс сканирования происходит в режиме постоянной силы, действующей между зондом и образцом. Для поддержания постоянной величины силы трёхмерной пьезосканер сдвигает образец по вертикали в зависимости от сигнала датчика смещений, поступающего по цепи обратной связи, так чтобы сила оставалась постоянной. Результатом сканирования после компьютерной обработки сигналов является поверхность постоянной силы, которая даёт наглядное представление о топографии исследуемой поверхности (морфологии). С помощью АСМ могут быть измерены силы В настоящее время АСМ активно используется в молекулярной биологии, анализе полупроводниковых устройств с размерами |
|
Архитектура кантилеверных датчиков и системы контроля за положением кантилеверов Вернуться в оглавление: Физические явления |