Тема 31. Интерференция и дифракция электромагнитных волн сантиметрового диапазона

Среди выпускаемого промышленностью России школьного обору­дования для физических кабинетов имеется демонстрационная уста­новка излучателя электромагнитных волн сантиметрового диапазона с набором рупорных антенн и приемным устройством, позволяющим исследовать интерференционные и дифракционные явления электро­магнитных волн этого диапазона. Так как волны сантиметрового диа­пазона при прохождении через многие диэлектрики сильно поглоща­ются, в качестве призм и преломляющих устройств следует выбирать слабо поглощающие материалы, например, фторопласт.

Задание

1. Разработать и описать методику исследования интерференции и дифракции электромагнитных волн сантиметрового диапазона, дав те­оретическое и экспериментальное обоснование методики исследования. Дать рисунок или чертеж схемы исследования. Дать анализ погреш­ностей (ошибок) измеряемых величин.

2. Придумать и описать методику исследования проникновения электромагнитных волн сантиметрового диапазона при переходе из "оптически" более плотной в "оптически" менее плотную среду при полном внутреннем отражении волн, дав достаточно подробное тео­ретическое и экспериментальное обоснование методики исследования. Дать рисунок или чертеж схемы исследования. Дать анализ погреш­ностей (ошибок) измеряемых величин.

3. Провести достаточно подробную обработку результатов измере­ний с указанием погрешностей.

Литература

1. Мякишев Г.Я.,Буховцев Б.Б. Физика 11. Просвещение, Москва, 1994.

2. Физика 11. Под редакцией Пинского А.А. Просвещение, Москва, 1995.

3. Ландсберг Г.С. Элементарный учебник физики, том 3. Наука, Москва, 1995.

ОПТИКА

Тема 32. Изучение центрированных оптических систем

Большинство реальных оптических систем содержит несколько преломляющих сферических поверхностей. Если центры кривизны всех сферических поверхностей лежат на одной прямой, которую назы­вают главной оптической осью системы, то такую оптическую систему называют центрированной. Простейшей центрированной оптической системой является тонкая стеклянная линза со сферическими поверх­ностями, так как два центра кривизны поверхностей всегда лежат на одной прямой. Основной характеристикой тонкой линзы служит фокус­ное расстояние, величина которого зависит от величины показателей преломления стекла и внешней среды, а также радиусов кривизны сфе­рических поверхностей.