Задание. 1. Разработать и описать методику изучения центрированных оптических систем, дав обоснование методики исследования

1. Разработать и описать методику изучения центрированных оптических систем, дав обоснование методики исследования. Дать ри­сунок или чертеж схемы исследования. Дать анализ погрешностей (ошибок) измеряемых величин.

2. Исследовать явление аберрации тонких линз, т. е. зависимости величины фокусного расстояния от длины световой волны и радиусов кривизны поверхностей.

3. Провести подробную обработку результатов измерений с указа­нием погрешностей.

Литература

1. Мякишев Г.Я.,Буховцев Б.Б. Физика 11. Просвещение, Москва 1994.

2. Физика И. Под редакцией Пинского А.А. Просвещение Москва 1995.

3. Ландсберг Г.С. Элементарный учебник физики, том 3. Наука Москва, 1995.

Тема 33. Моделирование оптических приборов и определение коэффициента их увеличения (трубы Кеплера и Галилея, микроскоп)

Оптические приборы, такие как труба Кеплера, труба Галилея и микроскоп состоят из двух основных частей: объектива - линзы, обращённой к объекту, и окуляра - линзы, обращённой к наблюдате­лю. Объектив, в качестве которого всегда используется положительная линза, создаёт действительное изображение предмета. Это изображе­ние через окуляр рассматривается или глазом или регистрируется фо­топленкой.

Задание

1. Приведите схемы оптических приборов (трубы Кеплера и Гали­лея, микроскоп), ход лучей при непосредственном наблюдении глазом и ход лучей при фотографировании объекта. Опишите методику опре­деления коэффициента их увеличения, дав теоретическое и экспери­ментальное обоснование этой методики. Дайте анализ погрешностей (ошибок) измеряемых величин.

2. Соберите модели оптических приборов и измерьте коэффициенты их увеличения.

3. Проведите обработку результатов измерений с указанием по­грешностей.

Литература

1. Мякишев Г.Я.,Буховцев Б.Б. Физика И. Просвещение, Москва 1994.

2. Физика 11. Под редакцией Пинского А.А. Просвещение Москва 1995.

3. Ландсберг Г.С. Элементарный учебник физики, том 3. Наука, Москва, 1995.

Тема 34. Измерение показателя преломления стеклянной пластинки с помощью микроскопа

Так как глубина резкости микроскопа невелика, это свойство ис­пользуют для измерения показателя преломления стеклянных пластин различных материалов.