(ТУ 4434-932-11855928-20070)
№п/п | Характеристика показателя | Уровень показателя |
Количество измерительных каналов | ||
Рабочий спектральный диапазон, нм | 190–350 и 385–470 | |
Спектральное разрешение при ширине входной щели 15 мкм, нм | 0,012 | |
Обратная линейная дисперсия, нм/мм | 0,3–0,42 | |
Относительное отверстие | 1:16 | |
Динамический диапазон (при однократной регистрации спектра) | 104 | |
Сдвиг спектральных линий без коррекции профилирования по реперным линиям, нм/оС | 0,002 | |
Минимальное время экспозиции, мс | ||
Дифракционная решетка (вогнутая, нарезная): – частота штрихов, штр/мм – радиус кривизны, мм – рабочий порядок спектра | первый |
Аналитические возможности спектрометров с МАЭС обусловлены как возможностями ПО «Атом», так и аппаратной частью: свойствами линеек фотодиодов и электрической схемы в целом. Анализаторы МАЭС широко используются в научных исследованиях и на производстве, криминалистике и при обучении сотрудников аналитических лабораторий. Основными объектами анализа являются: стали, чугуны, алюминиевые, цинковые, свинцовые, медные и др. сплавы, графитовый порошок, природные геологические пробы, продукция глиноземного и ферросплавного производств, чистые металлы (медь, алюминий, золото, серебро, платина и пр.). Обычно порядок выполнения спектральных анализов регламентируется соответствующим ГОСТом на метод анализа или специально разработанной методикой проведения измерений. В соответствии с методикой аналитик задает аналитические линии, рабочие диапазоны концентраций, нормативы контроля сходимости и воспроизводимости, а МАЭС автоматизирует весь процесс анализа от получения спектров до выдачи результатов.
|
|