Понятие об обратной решётке вводится для периодического распределения отражающей способности кристалла по отношению к рентгеновским лучам. Отражение рентгеновских лучей от плоскостей структуры кристалла описывается законом Вульфа – Брэгга: 2d • sinθ = nλ.
Из этого условия вытекает, что при постоянной длине волны излучения λ большой величине d отвечает малый угол θ.
Чем больше межплоскостное расстояние d, тем ближе направление отражённых лучей к направлению падающего луча. Отражения рентгеновских лучей от бесконечно протяжённых идеальных кристаллов должны быть точечными.