2020-01-14
86
Построение технологической карты для обобщенной программы обработки результатов измерений.
| №, п/п. | Содержание |
O 01 Старт
O 02 Анализ и коррекция погрешностей ряда измерений I 20
O 03 Возникают ли в процессе измерения систематические и случайные
погрешности?
O 04 Проверить правильность интерпретации процесса измерения
O 05 Были ли найдены погрешности измерений?
O 06 Определить погрешности измерений
O 07 Определены ли раздельно систематические и случайные погрешности?
O 08 Определить раздельно систематические и случайные погрешности
O 09 Были ли графически определены случайные погрешности?
O 10 Предпочесть графический способ определения случайных
погрешностей
O 11 Были ли исключены грубые погрешности?
O 12 С помощью соответствующих критериев исключить грубые по-
грешности
O 13 Достаточно ли точно вычислены систематические погрешности?
O 14 Достаточно ли точно проведено экспериментальное определение
систематических погрешностей?
O 15 Улучшить аппроксимацию объекта моделью
O 16 Применить подходящие образцовые меры (правильно: систематическая
погрешность образцовой меры должна быть на порядок меньше
систематической погрешности исследуемого процесса измерения)
O 17 Можно ли пренебречь систематическими погрешностями по сравнению
со случайными?
O 18 Провести коррекцию систематических погрешностей
O 19 Уменьшить влияние случайных погрешностей
O 20 Можно ли повторить процесс измерения?
O 21 Предпочесть коррекцию с помощью вычислений
O 22 Процесс измерения часто повторяется
O 23 Можно ли изменить структуру измерительной системы?
O 24 Предпочесть коррекцию путем изменения параметров системы
O 25 Предпочесть коррекцию с помощью корректирующих звеньев
O 26 Сформулировать результат измерения
O 27 Результат измерения
O 28 Стоп
Для исследования и изучения емкостно-диодной схемы мною были проведены следующие опыты и были получены следующие результаты.
1). построить статическую характеристику датчика (зависимость выходного напряжения UBblx от измеряемой емкости С при заданных значениях сопротивлений R1, R2 и емкости конденсатора Со) на частоте 50 кГц;
2). определить амплитудно-частотные характеристики измерительной схемы при разных значениях Сх и R1 = R2 = R;
3). оценить статические характеристики измерительной схемы при R1 ≠ R2;
4). построить статические характеристики измерительной схемы UBb,x = f(C),
амплитудно-частотные и регулировочные характеристики. Сделать выводы по результатам исследований.
