Как показано в главе 5, вследствие рекомбинации в области объемного заряда изменяются уравнения диодов, описывающие токи p-n переходов. Эти изменения можно промоделировать, добавив в модель Эберса-Молла четыре параметра, с помощью которых базовый ток определяется как суперпозиция токов идеального и неидеального диода:
. (7.154)
идеальная
реальная
а) б)
Рисунок 7.95 - Влияние эффектов второго порядка на характеристики биполярного транзистора в активном режиме. Цифры на рисунках соответствуют нумерации эффектов в тексте
На практике эти новые параметры определяются с помощью измерений при малых напряжениях смещения эмиттерного перехода. Например, ток находится с помощью экстраполяции графика зависимости от до его пересечения с осью ординат (рисунок 7.95).
|
|
Эффект Эрли и высокий уровень инжекции
Чтобы учесть эффект сильных токов и эффект Эрли, достаточно модифицировать параметр , который является множителем в выражении для тока связи между эмиттером и коллектором. Если выразить из уравнений (7.113) полный заряд базы и полный ток насыщения , то получим
, (7.155)
где . (7.156)
В модели Гуммеля-Пуна заряд представлен составляющими, которые зависят от напряжения смещения и легко рассчитываются. В модели имеется «встроенный» заряд базы , равный
. (7.157)
Помимо этого члена в модель входят заряды эмиттерного и коллекторного переходов и плюс заряд связанный с прямой и инверсной инжекцией неосновных носителей базы. В результате их суммирования выражение для полного заряда имеет вид
.
(7.158)
Определив несколько вспомогательных параметров, выражение (7.158) можно привести к более удобному виду:
(7.159)
В уравнении (7.159) основная переменная, полный заряд базы , и соответствующая ей безразмерная переменная обозначена . Постоянные времени и совместно с определяют «токи излома» и , роль которых будет показана ниже. Определения напряжения Эрли и эквивалентного напряжения Эрли для инверсного режима совпадают с их определением, данным в выражении (7.149).
|
|
С помощью введенных нормированных переменных уравнение (7.158) можно переписать в следующем виде:
, (7.161)
где
Эти новые переменные в удобном виде отображают роль эффектов второго порядка, которые учитываются с их помощью. Если эффект Эрли можно не учитывать, то стремится к единице. Если эффекты высокого уровня инжекции не влияют на работу транзистора, то будет малым.
Следовательно, представленная модель описывает эффекты модуляции ширины базы посредством двух напряжений Эрли, а эффекты высокого уровня инжекции – с помощью токов излома и . Таким образом, для модели Гуммеля-Пуна требуется определение трех переменных базовой модели Эбрса-Молла и четырех дополнительных параметров для моделирования эффектов рекомбинации в области объемного заряда. Найденные параметры модели Эберса-Молла обеспечивают правильное описание работы прибора в среднем диапазоне напряжений смещения, где не действуют эффекты высокого уровня инжекции.
И, наконец, эффекты модуляции ширины базы и заряда основных носителей базы моделируются посредством введения переменной , значение которой зависит от четырех дополнительных параметров , , и . Следовательно, полная модель транзистора определяется 11 параметрами и температурой прибора (с помощью которой вычисляется ). Весь набор уравнений, образующих модель n-p-n -транзистора, имеет следующий вид [12]:
|
Для высокого уровня инжекции, когда эффект Эрли действует значительно меньше по сравнению с эффектами высокого уровня инжекции, имеем . В этой ситуации нормированный заряд базы описывается асимптотическим выражением для высоких напряжений смещения
. (7.163)
Следовательно, формула для коллекторного тока будет иметь вид
. (7.164)
Физический смысл уравнения (7.164) состоит в том, что при достаточно высоком уровне инжекции в области базы концентрация основных носителей в базе начинает зависеть от напряжения смещения.
Рисунок 7.96 - Асимптотические зависимости для малых и больших напряжений смещения пересекаются в точке, которой соответствует ток излома
Следует отметить, что в моделях Эберса-Молла и Гуммеля-Пуна не используются граничные условия p-n перехода для произвольных уровней инжекции Флетчера-Агаханяна. Поэтому указанные модели не применяются для физико-топологического проектирования структуры биполярного транзистора. Однако благодаря эмпирическому определению параметров модели достигается удовлетворительное соответствие проектируемых электрических схем реальному характеру их поведения. Это обстоятельство предопределило широкое применение моделей Эберса-Молла и Гуммеля-Пуна в программных продуктах по автоматизированному проектированию электронных схем на основе биполярных транзисторов.