2015-01-21
1007
Контролируемую деталь устанавливают базовой поверхностью на поверочную плиту (рис. 3.50).
|
|
Схема расположения контрольных точек
1 – контролируемая деталь; 2 – измерительная головка;
3 – штатив (стойка); 4 – плоскопараллельная пластина; 5 – поверочная плита
Рис. 3.50. Измерение отклонения плоскостей от параллельности
Для исключения влияния отклонений формы измеряемой поверхности на нее накладывают плоскопараллельную пластину 4. С помощью измерительной головки 2, базирующейся в штативе или стойке 3 на поверочной плите 5, производят непрерывное измерение (сканирование) или дискретное измерение по отдельным точкам свободной поверхности детали 1 по контуру измеряемой поверхности. Если этот контур прямоугольный, то достаточно измерить четыре угловые контрольные точки.
Отклонение от параллельности определяют как разность наибольшего и наименьшего показаний измерительной головки во всех контрольных точках поверхности.
Если отклонение формы измеряемой поверхности пренебрежимо мало по сравнению с искомым отклонением от параллельности, можно применять методику выполнения измерений с ощупыванием самой измеряемой поверхности без наложения на нее плоскопараллельной пластины.
|
|
|
Возможен также вариант выполнения измерений без использования плоскопараллельной пластины и в случае значимых отклонений формы измеряемой поверхности. В этом случае измеряют координаты или отклонения множества контрольных точек измеряемой поверхности, располагающихся в узлах «сетки» как при контроле отклонения от плоскости. По полученным результатам измерений с использованием аналитических расчетов или/и графических построений определяют положение прилегающей или средней плоскости, а также отклонение от параллельности этой плоскости относительно соответствующей базы, которое и принимается в качестве искомого отклонения расположения.
Измерение отклонений от параллельности оси отверстий базовой плоскости детали прибором для линейных измерений с использованием оправки.
На поверочную плиту устанавливают базовой поверхностью измеряемую деталь и стойку или штатив с измерительной головкой (рис. 3.51).
1 – контролируемая деталь; 2 – поверочная плита;
3 – оправка; 4 – измерительная головка; 5 – штатив (стойка).
Рис. 3.51. Измерение отклонения от параллельности оси и плоскости
Ось контролируемого отверстия (или отверстий) материализуют с помощью оправки – цилиндрической или конической с малой конусностью. Возможно также использование оправок иной конструкции, например, разжимных цанговых, бесконтактных оправок на аэростатических опорах и др.
|
|
|
Положение оправки измеряют в двух точках, лежащих на расстоянии L И друг от друга. Разность показаний измерительной головки, соответствующих размерам A 1 и A 2 в двух крайних точках участка измерения L И и принимается в качестве отклонения от параллельности оси и плоскости на длине L И. Искомое отклонение от параллельности Δ рассматриваемого элемента на нормируемой длине L Н определяется путем пропорционального пересчета.
Если рассматриваемые отверстия имеют разные номинальные диаметры D и d, то для материализации их общей оси используют ступенчатую оправку (рис. 3.52).
1 – контролируемая деталь; 2 – поверочная плита;
3 – ступенчатая оправка; 4 – измерительная головка; 5 – штатив (стойка)
Рис. 3.52. Измерение отклонения от параллельности общей оси
двух отверстий и плоскости
Отклонение от параллельности общей оси двух отверстий относительно базовой плоскости на длине измерения L И, рассчитывают пользуясь формулой:
.
