I. Письменно ответить на контрольные вопросы:
1. Составные части аналитического ПЭМ.
2. Разновидности электронных пушек и принципы их работы.
3. Высоковольтный умножитель напряжения Кокрофта-Валтона.
4. Режимы работы линзовой осветительной системы.
5. Дефлектор: устройство и назначение.
6. Разновидности держателей образца.
7. Принципы действия электронной линзы.
8. Объективная линза и ее параметры.
9. Абсорбционно-дифракционный и фазовый контраст.
10. Система увеличивающих линз.
11. Режимы увеличения и дифракционные режимы ПЭМ.
II. Практическая часть работы.
1. Разобрать устройство основных систем микроскопа: вакуумная система, система охлаждения, система высоковольтного питания, система управления, оптическая система.
2. Ознакомится с системой загрузки образцов, и ввести в колонну предложенный преподавателем образец.
3. Ознакомится (законспектировать действия оператора) с порядком юстировки микроскопа.
4. Получить изображение объекта в режиме прямого разрешения при различных увеличениях.
|
|
5. Получить дифракционные картины в режимах микро- и нанопучковой дифракции.
6. Освоить процедуру фотографирования.
7. Ознакомиться (законспектировать действия оператора) с порядком перевода микроскопа в дежурный режим.
Список литературы
1. Синдо, Д Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия/Д. Синдо, Т. Оикава – М.: Техносфера, 2006. -265с.;
2. David B. Williams «Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science»/ David B. Williams, C. Barry Carter - Springer Science, 2009 – 779 p.;
3. Хирш П. Электронная микроскопия тонких кристаллов/Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М., М.: Мир, 1968. – 573 с.;
4. User's Guide: Precision Ion Polishing System, Gatan inc.- revision 3 - 11.1998 - 118 p.