Лабораторная работа №5. Исследование статических характеристик логических элементов на МДП транзисторах

Исследование статических характеристик логических элементов на МДП транзисторах.

Цели работы:

· Углубление и расширение теоретических знаний по физическим основам микроэлектроники и работы логических элементов на МДП транзисторах.

· Знакомство с конструкцией КМОП ИС различного назначения.

· Освоение методики снятия передаточных характеристик.

· Освоение графоаналитического метода расчета основных статических параметров.

Подготовительное задание.

МикросхемаК176ЛП1 (рисунок 1)представляет собой логический элемент универсальный. Содержит 9 интегральных элементов (6 МОП транзисто­ров и 3 диода). Корпус типа 201.14-1 и типа 2102.14-4, масса не более 1 г.

Рисунок 1 – Внешний вид и расположение выводов микросхемы К176ЛП1.

К176ЛП1 может быть использована в качестве: трех элемен­тов НЕ: элемента ЗИЛИ—НЕ; элемента ЗИ—НЕ; элемента НЕ с большим коэффициентом разветвления.

Рисунок 2 – Условное графическое обозначение К176ЛП1.