Студопедия
Обратная связь


Авиадвигателестроения Административное право Административное право Беларусии Алгебра Архитектура Безопасность жизнедеятельности Введение в профессию «психолог» Введение в экономику культуры Высшая математика Геология Геоморфология Гидрология и гидрометрии Гидросистемы и гидромашины История Украины Культурология Культурология Логика Маркетинг Машиностроение Медицинская психология Менеджмент Металлы и сварка Методы и средства измерений электрических величин Мировая экономика Начертательная геометрия Основы экономической теории Охрана труда Пожарная тактика Процессы и структуры мышления Профессиональная психология Психология Психология менеджмента Современные фундаментальные и прикладные исследования в приборостроении Социальная психология Социально-философская проблематика Социология Статистика Теоретические основы информатики Теория автоматического регулирования Теория вероятности Транспортное право Туроператор Уголовное право Уголовный процесс Управление современным производством Физика Физические явления Философия Холодильные установки Экология Экономика История экономики Основы экономики Экономика предприятия Экономическая история Экономическая теория Экономический анализ Развитие экономики ЕС Чрезвычайные ситуации


Гелиевый ионный микроскоп

<== предыдущая статья | следующая статья ==>

 

Улучшение измерения наноразмеров является важной задачей в условиях введения стандартов и улучшения технических характеристик в полупроводниковой индустрии и нанотехнологии. Новый принцип работы микроскопа подразумевает использование атомов гелия для генерирования сигнала, используемого на очень малых объектах. Это технический аналог сканирующего электронного микроскопа, впервые внедренного в использование в 1960-х годах. Парадоксально, что хотя атомы гелия объемнее электронов, они могут обеспечить большее разрешение и больший контраст изображений.

Глубина резкости пространственного изображения также гораздо лучше при использовании этой новой технологии, и таким образом большая часть изображения находится в фокусе. Атомы имеют больший размер и более короткую длину волны, чем электрон, и именно поэтому они обеспечивают лучшее изображение. Картинка предстает уже трехмерной, выявляя детали меньшие, чем нанометр.

Изображение атомов, полученное современным сканирующим электронным микроскопом имеет сравнительно слабую глубину резкости – только часть картинки находится в фокусе. В противоположность этому, гелиевый ионный микроскоп дает цельное изображение, четкое и ясное. Исследователи изучают возможности гелиевого ионного микроскопа в области наноизмерений, которые очень важны в области полупроводниковой индустрии и нанотехнологий.

Явное преимущество гелиевого ионного микроскопа – в том, что он отображает реальные границы, края образца гораздо лучше, чем сканирующий электронный микроскоп, который весьма чувствителен к ручным настройкам параметров.

Полупроводниковые предприятия имеют многомиллионные сканирующие электронные микроскопы для обработки и контроля процессов производства микрочипов. Комбинация требования низких вибраций и наноизмерений приводит к некой размытости рисунка, как если бы был изображен движущийся предмет.

 

<== предыдущая статья | следующая статья ==>

 

Читайте также:

Физические основы СКВИД - микроскопии

Свойства и прикладное значение наноматериалов

Методы преобразования биохимических реакций в аналитический сигнал

Принципы построения и особенности функционирования измерительных устройств, основанных на использовании свзанных колебаний в системах с двумя степенями свободы

Физические основы нанотехнологий, получение наноматериалов

Эффект Мейснера

Физические основы создания интеллектуальных измерительных систем с использованием нейросетевых технологий

Нечёткая логика и теория нечётких множеств

Упорядоченные углеродные наноструктуры и области их практического применения

Квантовый эффект Холла

Понятие «нечеткой логики»

Литература

Физическая природа туннельного эффекта

Особенности реализации нелинейных процессов в системах с хаотической динамикой

Вернуться в оглавление: Современные фундаментальные и прикладные исследования в приборостроении

Просмотров: 1469

 
 

© studopedia.ru Не является автором материалов, которые размещены. Но предоставляет возможность бесплатного использования. Есть нарушение авторского права? Напишите нам. Ваш ip: 54.145.213.148