4.1. Представляет собой сверлильный станок 2Н135 и специальное приспособление – кондуктор с двумя кондукторными втулками. Деталь – втулка, насаживается на неподвижную ось под кондукторной плитой до упора и закрепляется накидной серьгой и гайкой.
После просверливания трех отверстий с координатными размерами 21 ± 0,15 мм в трех деталях, производится переустановка приспособления на столе станка для сверления 3-х отверстий от другой базовой поверхности.
4.2. В процессе сверления необходимо соблюдать технику безопасности: волосы у девушек должны быть убраны под косынку, проверена надежность крепления кондуктора, детали и сверла. Перед включением станка необходимо убедиться в том, что сверло свободно входит в соответствующую кондукторную втулку. При включенном станке браться за вращающиеся части запрещается.
5.МЕТОДИКА ПРОВЕДЕНИЯ ЭКСПЕРИМЕНТОВ
И ОБРАБОТКА ЕГО РЕЗУЛЬТАТОВ
5.1. По справочникам технолога /5, 6/ оптимальными режимами сверления отверстий во втулке из стали 20 будут: VРЕЗ = 20 м/мин; Sо = 0,20 мм/об. Необходимо определить для данного станка ближайшие фактические режимы резания, установить их на станке и на них осуществлять обработку.
|
|
5.2. Установить деталь в приспособлении и просверлить по кондуктору отверстие d1 сверлом диаметром 10,0 мм, выдерживая от оси отверстия до торца втулки координатный размер 21 мм. В этом случае технологическая базовая поверхность будет совпадать с измерительной. Эксперимент повторить три раза.
5.3. Произвести измерение фактически полученных размеров Г1 и А1 = d1/2 (Рис. 3.1) у трех деталей.
Измерение производить в следующем порядке.
1) Установить индикатор по блоку плиток на размер, соответствующий номиналу Г1
Г1 = Б1 – d1/2 = 21 – 5,0 = 16,0 мм,
И по показаниям индикатора определить отклонение от номинального размера и фактические размеры Г1.
2) Установить индикаторный нутромер по микрометру на номинальный размер отверстия 10,0 мм, определить отклонение от него и фактические размеры отверстия d1.
3) По полученным отклонениям от номинальных размеров и фактическим замерам Г1 и А1 определить фактические размеры Б1 из уравнения (3.1) и погрешности wБ1 выполнения этого размера из уравнения (3.6).
5.4. Переустановить деталь в приспособлении и просверлить по кондуктору отверстие d2 диаметром 10,0 мм, выдерживая от его оси до торца втулки координатный размер 51 мм. В этом случае технологическая базовая поверхность не совпадает с измерительной. Эксперименты повторить три раза.
5.5. Произвести измерение фактически полученных размеров Г2, В2 и А2= d2/2 (Рис. 3.2) у трех деталей. Измерение производить в следующем порядке:
1) Установить индикатор по блоку плиток на размер, соответствующий номиналу Г2
|
|
Г2 = В2 – Б2 = 72 – 21 = 51 мм и по показаниям индикатора определить отклонение от номинального размера и фактические размеры Г2.
2) Микрометром с пределом измерения 75–100 мм измерить фактический размер В2 от номинального размера В2 = 72 мм.
3) Ранее настроенным индикаторным нутромером произвести измерение отклонений от номинальных размеров и определить фактические размеры отверстий d2.
5.6. Результаты измерений погрешностей wГ1, wА1 = wd1/2 и фактических размеров Г1 и
А1 = d1/2 занести в табл. 5.1 и размерную схему (Рис. 2.1)
Таблица 5.1
Номер работы | wГ1 | wА1 | Г1 | А1 | Б1 | wБ1 |
Сред. | ||||||
Max. | ||||||
Min. |
Результаты измерений погрешностей wГ2, wВ2 и wА2 = wd2/2 и фактических размеров Г2, В2 и
А2 = d2/2 занести в табл. 5.2 и размерную схему (Рис. 2.1)
Таблица 5.2
Номер работы | wГ2 | wВ2 | wА2 | Г2 | В2 | А1 | Б3 | Б2 | wБ3 |
Сред. | |||||||||
Max. | |||||||||
Min. |
5.7. Составить схемы размерных цепей (Рис. 2.1) для обеих вариантов базирования и из уравнений (3.1), (3.6), (3.7), (3.8) И (3.11) определить фактические размеры Б1 и Б2и их погрешности wБ1 и wБ2. Результаты занести в табл. 5.1 и 5.2.Сравнить полученные данные и определить какой метод базирования дает лучшие результаты.
5.8. Рассчитать допуск на размер В2 (уравнение 3.12), при котором изготовленная деталь обеспечила бы необходимую точность получения размера Б2 (21 ± 0,15 мм) при базировании по П варианту, когда технологическая базовая поверхность не совпадает с измерительной базовой поверхностью. Сделать соответствующие выводы.