Метод градуировочного графика

Основной задачей атомно-эмиссионного анализа является получение количественного значения концентрации примесей или легирующих компонентов в анализируемом материале.

Количественный спектральный анализ основан на зависимости интенсивности аналитической линии (I) от содержания определяемого элемента (с) в пробе.Теоретически рассчитать связь между ними практически невозможно, т.к. она зависит от большого числа факторов, не поддающихся точной оценке.

Однако для анализа нет необходимости измерять абсолютную интенсивность спектральных линий. Достаточно проводить относительные измерения интенсивностей одной и той же спектральной линии при изменении концентрации определяемого элемента. При этом если обеспечена неизменность условий возбуждения и регистрации спектров, энергия излучения, попадающая на приемник, пропорциональна интенсивности. Измерение этой энергии (а точнее напряжения на выходе полупроводникового фотоприемного устройства) дает нам эмпирическую связь между измеряемой величиной и концентрацией элемента в пробе.

С точностью до постоянного множителя зависимость интенсивности от концентрации в простейших случаях может быть рассчитана. Но в большинстве случаев эту зависимость устанавливают опытным путем. Для этого применяют так называемые «эталоны» или «стандартные образцы» (СО) – пробы, близкие по составу к анализируемым и имеющие заранее известное содержание определяемых элементов. Измеряя интенсивности линий в спектрах СО в тех же условиях, в которых исследуются анализируемые пробы, получают для ряда значений с,соответствующие им значения интенсивности (в произвольных единицах) аналитической линии I или какой-либо функции интенсивности f (I). Откладывая по оси абсцисс величины c либо значения удобной для анализа функции f (c), а по оси ординат – найденные значения I или f (I), строят интерполирующую кривую, называемую градуировочным графиком или калибровочной кривой (рис. 3.9).

Рис. 3.9. Градуировочный график

Градуировочные графики строят в координатах: функция интенсивности f (I _х) – функция концентрации f (c _х). Конкретный вид этих функций зависит от особенностей конкретной аналитической методики и анализируемых проб. В анализе металлов и сплавов наиболее широко применяемыми функциями f (c _х) являются: lg c _x – когда концентрация определяемой примеси c _х много меньше концентрации элемента сравнения c ₀, а концентрация элемента сравнения постоянна, и lg(c _x/ c ₀) = lg[ c _x/(100 – c _x – å c _i)] – когда концентрация определяемой примеси c _x и суммарная концентрация других элементов пробы å c _i достаточно велика, чтобы их изменения существенно влияли на концентрацию элемента сравнения c ₀. Другие функции f (c _х) при анализе сплавов применяются значительно реже.

Более широк при анализе сплавов набор функций f (I). При фотоэлектрической регистрации это – величина фототока I _х или отношение фототоков I _х/ I ₀ и некоторые другие.

Иногда при использовании дифференциальных фотоэлектрических измерительных схем регистрируются не относительные, а разностные величины сигналов от аналитических пар линий. При работе фотометров в режиме счета фотонов измеряют число фотонов n _х на длине волны l_ан за заданное время экспозиции или за время, необходимое для накопления в канале сравнения заданного постоянного числа фотонов n ₀, и т.д.

По измеренным интенсивностям аналитических линий в пробах, пользуясь построенной кривой, графически определяют концентрации примесей.

Таким образом, спектральный анализ является относительным методом: получение результатов возможно только путем сравнения интенсивности спектральных линий пробы с интенсивностью тех же линий эталонов. Результаты анализа могут быть надежны лишь в той степени, в какой надежны применяемые СО [2].