Як відомо, для власних напівпровідників залежність питомої провідності
від температури
описується виразом
(6.3) (див. §6.2). Цю залежність можна подати так:
, (1)
де
- питома провідність власного напівпровідника при
;
- ширина забороненої зони напівпровідника;
- стала Больцмана.
Формула (1) описує пряму
(рис.1), тангенс кута нахилу якої до осі абсцис дорівнює:
. Тому ширину
забороненої зони власного напівпровідника можна визначити із співвідношення:
, (2)
де
,
– значення ординати прямої
у відповідних точках
і
її абсциси (рис.1).

В даній лабораторній роботі використовується лабораторна установка, яка схематично наведена на рис.2.

Рис. 2
Напівпровідниковий зразок 1 розміщений всередині нагрівного елемента 3. Живлення нагрівного елемента здійснюється від автотрансформатора 4, увімкненого в мережу 220 В. Напруга на нагрівнику контролюється вольтметром 7. Для вимірювання температури використовується термопара 2 хромель–копель, яка під’єднана до мілівольтметра 5. Опір досліджуваного зразка вимірюється за допомогою цифрового приладу 6 для вимірювання опору.
Досліджуваний зразок має форму паралелепіпеда довжиною L =3 мм та площею поперечного перерізу S =0,1 мм2. Питому провідність
зразка розраховують за даними вимірювання його опору
та відомими значеннями довжини зразка і площі його поперечного перерізу, використовуючи формулу
. (3)
Опором переходу метал-напівпровідник нехтуємо.






