ХОД работы

1. Включить спектрофотометр СФ-18 (СФ-10) и дать ему прогреться в течение 20 мин.

2. Провести юстировку спектрофотометра, как описано выше.

3. Установить в измерительный канал светофильтр №1 и произвести запись спектральной зависимости коэффициента пропускания.

4. Установить в измерительный канал светофильтр №2 и произвести запись спектральной зависимости коэффициента пропускания.

5. Проверить совпадение точек, отмеченных на эталонных спектральных характеристиках и измеренных спектральных зависимостях коэффициентов пропускания светофильтров №1 и №2. Сделать выводы о правильности юстировки спектрофотометра (при необходимости отъюстировать прибор ещё раз). При сравнении реперных точек используйте книгу Excel из файла «Светофильтры.xls».

6. Провести при нормальном падении измерения спектральных зависимостей коэффициентов прозрачности и отражения пленки ZnO на стеклянной подложке для определения толщины прозрачной пленки.

7. Провести при нормальном падении измерения спектральных зависимостей коэффициентов прозрачности и отражения образца – пленки CdS на стеклянной подложке для определения коэффициента поглощения полупроводниковой пленки.

8. Провести при нормальном падении измерения спектральных зависимостей коэффициентов прозрачности и отражения интерференционных светофильтров, предложенных преподавателем.

9. Выполнить в программе Excel предварительную обработку результатов эксперимента: открыть соответствующие файлы с данными, полученными с помощью системы регистрации спектрофотометра СФ-18, и построить графики – спектральные зависимости коэффициентов отражения и пропускания.

10. Определить ширину полосы пропускания и длину волны в центре этой полосы для интерференционных светофильтров. Ширину полосы пропускания интерференционных светофильтров определять на половине высоты пика (провала) пропускания или отражения. Сравнить положение экстремумов и ширин полосы пропускания разных светофильтров.

11. Определить ширину запрещенной зоны и тип межзонных переходов для полупроводниковой пленки.