Порядок составления тестов для схем управления

Подготовка исходной документации:

- Разбивка схемы на одновыводные подсхемы и разбивка последних на более мелкие части и узлы;

- Определение дополнительных контрольных точек схемы в местах обрыва внешних обратных связей.

- Построение КТ для отдельных узлов и подсхем

- Построение ДТ для отдельных узлов и подсхем

- Склеивание тестов узлов и подсхем для получения обобщённого диагностического теста

При разбивке схемы на подсхемы и узлы необходимо учитывать следующие правила:

- Разбивка схемы на подсхемы ведется по направлению от входа к выходу;

- Подсхемы желательно разрывать перед местами ветвления;

- Выделенные подсхемы должны бить одновыводными;

- Желательно, чтобы выход подсхемы был либо выходом схемы, либо схем узла, либо элемента памяти;

- Элементы и узлы памяти желательно выделять в отдельные подсхемы;

Входами подсхемы могут быть независимые входные переменные схемы, входы элементов или узлов памяти или выходы других подсхем.

Рассмотрим часть бесконтактной схемы управления механизмом станка (рисунок 8.6).

Рисунок 5.6