Колебательные методики МСМ

Применение колебательных методик в магнитно-силовой микроскопии позволяет реализовать большую (по сравнению с квазистатическими методиками) чувствительность и получать более качественные МСМ изображения образцов.

Для получения МСМ изображения поверхности используется двухпроходная методика. С помощью пьезовибратора возбуждаются колебания кантилевера на частоте ω вблизи резонанса. На первом проходе в "полуконтактном" режиме записывается рельеф поверхности. На втором проходе зондовый датчик движется над образцом по траектории, соответствующей рельефу, так, что расстояние между ним и поверхностью в каждой точке равно величине z₀=const, определяемой оператором. МСМ изображение формируется посредством регистрации изменений амплитуды или фазы колебаний кантилевера.

В качестве примера на рисунке 41 представлены МСМ изображения поверхности магнитного диска, полученные с помощью различных методик.

Рисунок 41. МСМ исследования поверхности магнитного диска: АСМ изображение рельефа поверхности и МСМ изображение фазового контраста

Контраст на МСМ изображениях связан, в конечном итоге, с распределением намагниченности в образце.

Экспериментальное МСМ изображение упорядоченного массива магнитных частиц эллиптической формы приведено на рисунке 42.

Рисунок 42. МСМ изображение массива магнитных наночастиц, сформированных методом интерференционного лазерного отжига пленок Fe-Cr [14]