Рентгеноструктурный анализ

   Кристаллы для рентгеновских лучей являются естественными дифракци­онными решетками, так как межплоскостное расстояние в них соизмеримо с длиной волны рентгеновского излучения.

   Дифракцию на кристаллах можно представить как рассеяние рентгеновского излучения кристаллографическими плоскостями решетки с определёнными кристаллографическими индексами (рис. 1.22).

Рис. 1.22.Рассеяние рентгеновских лучей плоскостями кристалла

В направлении угла скольжения θ будет наблюдаться максимум интенсивности лучей, отраженных плоскостями одного семейства, если соблюдается закон Вульфа - Брэгга:

2d_HKL∙sinθ = nλ,

где d – межплоскостное расстояние; λ– длина волны рентгеновского излучения; n – порядок максимума.

   Иллюстрацией этого закона является рентгенограммы полимерного кристаллической меди (рис. 1.23) и аморфно-кристалличесого политетрафторэтилена (рис. 1.24). Рентгенограмма любого вещества несет в себе всю информацию о строе­нии, симметрии и структуре данного вещества.

Рис. 1.23.Рентгенограмма меди

Рис. 1.24.Рентгенограмма ПТФЭ