Определение толщины методом рассеяния

Для измерения толщины листа, труб, стенок различных изде­лий, когда доступ к объекту контроля возможен только с одной стороны, используют метод отраженного рассеяния. γ-лучи, попадающие в вещество, рассеиваются электронами атомов, вхо­дящих в состав данного материала. При этом интенсивность обратного рассеяния изменяется в зависимости от числа электро­нов в атомах и от толщины вещества. Так как для ряда материалов число электронов пропорционально плотности, то при прокатке металла с одинаковой плотностью по рассеянию γ-лучей можно делать заключение о толщине этих материалов. Зависимость плот­ности потока обратного рассеянного излучения от толщины рассеивателя определяется выражением:

 ,                                             (9)

где - плотность потока электромагнитного излучения на входе в металл;

   δ  -  толщина металла;

k - коэффициент обратного рассеяния, зависящий от телесного угла, в котором регистрируется рассея­ние;

т - постоянный коэффициент, зависящий от энергии из­лучения (к и т  определяются эмпирическими форму­лами).

На принципе рассеяния работает отражательный переносный толщиномер ТОР-1. Измерение толщины этим прибором осущест­вляется путем регистрации обратного рассеяния γ-излучения, интенсивность которого пропорциональна толщине.

Функциональная схема отражательного толщиномера ТОР-1 изображена на рис. 1.23.

Рис. 1.23. Функциональная схема прибора для измерения толщины листа методом рассеяния

При облучении контролируемого объ­екта 1 источником излучения 2 часть отраженных γ-лучей попадает в кристалл сцинтилляционного счетчика 3,вызывая световые вспышки. Фотоэлектронный умножитель 4преобразует эти вспышки в электрические импульсы. Последние усиливаются в усилителях 5-7,преобразуются и затем регистрируются изме­рительным прибором 8.Питание электрической схемы произ­водится от стабилизатора напряжения 9и преобразователя 10.