Пробой по закраине

Пробой конденсатора может произойти не только через толщу диэлектрика, но и по поверхности закраин (перекрытие).

Если средой, окружающей диэлектрик, является сухой воздух и приняты меры к выравниванию поля у краев обкладок путем соответствующего утолщения диэлектрика, то напряжение перекрытия будет близко к напряжению пробоя воздуха при зазоре соответствующей величины. При увлажнении уменьшается.

У края обкладки имеются две составляющие напряженности поля:

- тангенциальная, направленная вдоль поверхности закраины;

- радиальная, направленная перпендикулярно этой поверхности.

При некотором напряжении у края обкладки начинается ионизация воздуха (корона). Увеличение напряжения приводит к расширению области короны в направлении второй обкладки. При на закраине появляются скользящие разряды. При повышении напряжения до скользящие разряды переходят в полное перекрытие.

При выровненном поле перекрытие происходит без предварительного появления короны, причем величина мало зависит от частоты напряжения.

При резко неоднородном поле перекрытию предшествует корона, повышение частоты резко снижает напряжение перекрытия. .

Напряжение перекрытия зависит от ширины закраины.

При наличии неоднородного поля у края обкладки необходимо разбивать высоковольтный конденсатор на ряд последовательно включенных секций, с таким расчетом, чтобы напряжение, приходящееся на каждую секцию, находилось на линейном участке зависимости, и принимать, что значение напряжения испытания и напряжения перекрытия будут пропорциональны ширине закраины. При этом величину закраины надо увеличить пропорционально возрастанию испытательного напряжения, на значение которого надо ориентироваться при выборе закраины.

[162]

- коэффициент закраины

[163]

- это величина, обратная допускаемому значению средней напряженности поля на поверхности закраины .

При выборе закраины следует исходить из недопустимости перекрытия по закраинам при воздействии . Можно принимать .

- условие, обязательное для конденсаторов с органическим и неорганическим диэлектриком.

При малых значениях напряжения испытания должно быть не менее , определяемого технологическими соображениями с учетом опасности короткого замыкания обкладок за счет их смещения в процессе изготовления конденсатора.