Методы оптической металлографии

Метод светлого поля является наиболее распространенным методом исследования. Образцы рассматриваются в отраженном свете при прямом освещении объекта светом, проходящим через объектив. При этом в объектив попадают первый и центральный (нулевой) дифракционный максимум (рис.3.4).

Этот метод используется для исследования интерметаллических соединений, графитовых или неметаллических включений и других мелких частиц, которые могут присутствовать в образце (например, нитриды, карбонитриды, бориды). Некоторые мелкие включения, которые имеют по существу тот же коэффициент отражения, что и основной металл, могут наблюдаться в светлом поле, если они имеют большую разницу в контрастности и чистоте полировки, чем окружающий их металл.

Метод темного поля. В данном методе прямые лучи полностью устраняются из поля зрения и изображение формируется лишь дифрагированными лучами. Для этого объект освещается с помощью эпизеркала, расположенного вокруг оптической части объектива (эпиобъектив). Самосветящийся эффект, производимый темным полем, дает увеличение разрешения и видимости по сравнению со светлым полем. Темное поле собирает свет, который рассеян шероховатостью, трещинами, ямками травления. Метод дает хороший эффект в изучении зернистых структур. Но не все фазы хорошо видны в темном поле. Например, в технически чистой меди фаза окиси меди ярко светится в темном поле, а сульфит меди не виден. В светлом же поле обе фазы видны одинаково хорошо. Однако в целом метод темного поля улучшает контрастность изображения многих структур.