Задания по работе

I. Письменно ответить на контрольные вопросы:

1. Составные части аналитического ПЭМ.

2. Разновидности электронных пушек и принципы их работы.

3. Высоковольтный умножитель напряжения Кокрофта-Валтона.

4. Режимы работы линзовой осветительной системы.

5. Дефлектор: устройство и назначение.

6. Разновидности держателей образца.

7. Принципы действия электронной линзы.

8. Объективная линза и ее параметры.

9. Абсорбционно-дифракционный и фазовый контраст.

10. Система увеличивающих линз.

11. Режимы увеличения и дифракционные режимы ПЭМ.

II. Практическая часть работы.

1. Разобрать устройство основных систем микроскопа: вакуумная система, система охлаждения, система высоковольтного питания, система управления, оптическая система.

2. Ознакомится с системой загрузки образцов, и ввести в колонну предложенный преподавателем образец.

3. Ознакомится (законспектировать действия оператора) с порядком юстировки микроскопа.

4. Получить изображение объекта в режиме прямого разрешения при различных увеличениях.

5. Получить дифракционные картины в режимах микро- и нанопучковой дифракции.

6. Освоить процедуру фотографирования.

7. Ознакомиться (законспектировать действия оператора) с порядком перевода микроскопа в дежурный режим.

Список литературы

1. Синдо, Д Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия/Д. Синдо, Т. Оикава – М.: Техносфера, 2006. -265с.;

2. David B. Williams «Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science»/ David B. Williams, C. Barry Carter - Springer Science, 2009 – 779 p.;

3. Хирш П. Электронная микроскопия тонких кристаллов/Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М., М.: Мир, 1968. – 573 с.;

4. User's Guide: Precision Ion Polishing System, Gatan inc.- revision 3 - 11.1998 - 118 p.