Механизм граничного сканирования

Граничное сканирование — вид структурного тестирования печатной платы с установленными на неё компонентами, основанный на применении в микросхемах стандарта IEEE 1149.1. Результатом сканирования является информация о наличии в электроцепях типичных неисправностей, возникающих при производстве печатных плат: коротких замыканий, непропаек, западаний на 0\1, обрывов дорожек. Граничным сканирование было названо из-за того, что соответствующие микросхемы могут при определённых условиях сами протестировать своё окружение — периферию — на наличие неисправностей. Граничное сканирование было предложено в 1985 году и было реализовано в 1990 году в виде стандарта IEEE 1149.1. Для применения сканирования необходимо наличие в тестируемом устройстве компонентов, его поддерживающих. Некая тестовая последовательность (тестовый вектор — TestVector), двоичная — состоящая из нулей и единиц, вводится в тестовый порт (TAP). Она проходит последовательно через все ячейки граничного сканирования (BS Cells). На выходе (TDO) она анализируется специальным программным обеспечением, после чего делаются соответствующие выводы о состоянии инфраструктуры данной микросхемы. Если тестовая последовательность пришла в неизмененном состоянии — то делается вывод об отсутствии коротких замыканий и непропаек у микросхемы. Если последовательность изменилась — то наоборот. Конфигурации современных цифровых устройств настолько сложны, что по одному тестовому вектору обычно невозможно судить о всей инфраструктуре. Вследствие чего используются одновременно несколько тестовых векторов. В задачи программного обеспечения входит определение вида и минимального (безизбыточного) количества этих тестовых векторов.