Качественный фазовый анализ

Качественный фазовый анализ базируется на точном опреде­лении положения и интенсивности линий дифракционных спектров.

Различные фазы в кристаллах обладают не только разными свойствами, но и разной кристаллической структурой. От каждой фазы на рентгенограмме возникает свой набор интерференционных линий. Относительные интенсивности и определенные по рентге­нограмме межплоскостные расстояния (d) называют рентгеновской характеристикой вещества. Самые сильные линии данного вещест­ва называют реперными. По таким линиям обычно и выявляют фа­зы. Рентгенограммы многофазной системы представляют собой ре­зультат наложения рентгенограмм отдельных фаз, интенсивности которых пропорциональны количеству фазы в системе. Минималь­ное количество вещества, при котором еще заметны реперные ли­нии, определяет чувствительность фазового анализа.

Чувствительность метода зависит от интенсивности интер­ференционных линий, которые дает на рентгенограмме исследуе­мое вещество. Интенсивность линий для порошкового образца определяется произведением ряда факторов:

(1),

где – множитель поглощения, зависящий от брэгговского угла и линейного коэффициента поглощения , который зависит от атомного номера вещества и длины волны рентгеновского из­лучения ; – число элементарных ячеек в единице объема; – множитель Лоренца или фактор интегральности, появляю­щийся при переходе от максимальной интенсивности рассеяния ; – интерференционная функция Лауэ) к интегральной для случая, когда падающий и рассеянный лучи лежат в плоскости, перпендикулярной оси вращения кристалла. Множитель, зависящий от угла поворота крис­талла, – фактор Лоренца – в случае поликристалла равен . – поляризационный множитель, зависящий от геометрии съемки; – структурный множитель; – температурный множитель; – фактор повторяемости, зависящий от симметрии кристалла.

Из формулы (1) видно, что чувствительность метода зави­сит от соотношения коэффициентов поглощения определяемой фазы и всей смеси. Фаза с большим (т.е. фаза, состоящая из тяжелых элементов с большой рассеивающей способностью) в смеси со слабопоглощающими фазами выявляется при малых ее ко­личествах. При сравнении чувствительности метода для двух фаз с одинаковой решеткой, например кубической, следует учитывать значение структурного фактора. Так, для ОЦК-кристалла он ра­вен , а для ГЦК-кристалла , где – атомный множи­тель. Следовательно, одно и то же вещество, имеющее ОЦК- и ГЦК-модификации (например, α-Fe и β-Fe), выявляется в случае ГЦК-структуры при содержании в 4 раза меньшем, чем при наличии ОЦК-решетки.

Фактор повторяемости определяется симметрией решетки: чем ниже симметрия кристаллической решетки исследуемого ве­щества, тем больше требуется его для обнаружения. Последнее связано с тем, что понижение симметрии приводит к увеличению количества линий на рентгенограмме. При этом интегральная энергия излучения распределяется на большее число линий и интенсивность каждой из них понижается. Для кристаллов кубичес­кой сингонии значения принимают максимальные значения, поэ­тому фазы с кубической решеткой дают интенсивные рефлексы. К достоинствам рентгеновского фазового анализа должны быть от­несены также высокая чувствительность и экспрессность метода. Метод не требует большого количества анализируемого вещества; фазовый анализ можно проводить без разрушения образца. Кроме того, метод позволяет оценить количество фаз в смеси.

Чувствительность метода зависит от наличия структурных искажений и дефектов в кристалле и от размера кристаллитов. Эти факторы могут приводить к уширению интерференционных мак­симумов и, следовательно, к снижению чувствительности метода, поскольку размытые линии выявлять труднее, чем резкие. Чувс­твительность рентгеновского метода может быть повышена улуч­шением техники рентгеновской съемки и соответствующей подго­товкой исследуемых образцов. Применение монохроматоров умень­шает общий фон рентгенограммы, благодаря чему выявляются сла­бые линии.

Из-за наличия на рентгенограммах большого числа интерференционных максимумов и возможности наложения максимумов раз­ных фаз рентгенограмму многофазных систем необходимо рентгенографировать в длинноволновом излучении. При работе фотоме­тодом рекомендуется использовать селективно поглощающие филь­тры. Надежность идентификации повышается с ростом числа отра­жений от исследуемой фазы, поэтому следует использовать каме­ры с большим диаметром (например, РКУ-114). Закладку пленки предпочтительнее осуществлять асимметричным способом.

При рентгенографировании объектов с размером кристалли­ков более 10^‑4–10^-3 см образец необходимо вращать. При этом увеличивается количество зерен вещества, участвующих в отра­жении, и интенсивность линий возрастает. Однако при анализе двух- и многофазных систем целесообразно получить рентгеног­рамму без вращения. В этом случае при разном размере частиц фаз, входящих в смесь, характер линий на рентгенограмме от каждой фазы различен. Этот факт может облегчить разделение рефлексов, принадлежащих каждой фазе.

При съемке крупнокристаллических образцов чувствительность метода снижается из-за экстинкции. В отдельных случаях можно рекомендовать измельчение исследуемых порошков, в если объект рентгенографирования – монолитный образец, то наклеп поверхностного слоя следует удалить электрополировкой с последующим отжигом. Однако к механической обработке изучаемых объектов следует подходить очень осторожно, так как при этом можно существенно изменить состояние образца и даже фазового состава смеси.

Применение дифрактометров со сцинтилляционной регистра­цией интерференционных максимумов (установки ДРОН-2.0, ДРОН-3.0, ДРОН-4.0) и фокусировкой по Брэггу-Брентано приво­дит к повышению чувствительности фазового анализа. При такой фокусировке диффузно рассеянные лучи не фокусируются и поэ­тому уровень фона значительно ниже по сравнению с фотографи­ческим методом регистрации.

Уровень фона на дифрактограмме или рентгенограмме можно уменьшить оптимальным подбором напряжения на рентгеновской трубке. Оно должно составлять 3-4 потенциала ионизации. Нап­ример, для трубок с Cu-анодом оптимальное напряжение составляет 25-30 кВ.

Требование обеспечения высокой точности определения ин­тенсивности и низкого порога обнаружения линий, с одной сто­роны, и прецизионности и экспрессности определения межплоскостных расстояний с другой, приводят к необходимости нахож­дения компромиссных решений.

Чтобы уменьшить статистические флуктуации счета при регистрации, интенсивности дифракционных рефлексов, необходимо пользоваться широкими пучками, задавать большие постоянные времени и малые скорости сканирования.

Для точного определения и достижения высокого разре­шения линий при больших скоростях сканирования необходимы уз­кие щели и малые постоянные времени.

Наибольшее действие на смещение и искажение профиля ли­нии оказывают горизонтальная и вертикальная расходимости пер­вичного пучка рентгеновских лучей. Применительно к отечественным рентгеновским трубкам при угле выхода первичного пучка в 6° оптимальная ширина приемной щели составляет ≈ 0,25 мм.

В табл. 1 приведены оптимальные условия регистрации дифрактограмм от поликристаллических образцов для фазового анализа.

Если исключить все систематические ошибки, кроме ошибки промера рентгенограммы, можно рассчитать ошибку в величине межплоскостного расстояния между линиями на рентгенограмме.

Расчет показывает, что при обычной точности промера пленки ±0,1-0,2 мм (или 0,05-0,1°) при съемке в желез­ном излучении, межплоскостное расстояние в 3 Å определяется с точностью до ≈ 0,01 Å, а межплоскостное расстояние в 1 Å – с точностью до ≈ 0.001 Å.

Таблица 1

Оптимальные условия для регистрации дифракционных спектров