Люминесцентные методы контроля полупроводников

Люминесцентные методы контроля Е_g обладают рядом достоинств перед другими методами. Так, для своей реализации они не требуют приготовления плоскопараллельных образцов с заданной толщиной и нанесения омических контактов. Эти методы могут быть применены к поликристаллическим образцам. Они обладают большой локальностью, что очень важно для полупроводников с переменным составом, где другие методы вообще неприменимы. При этом точность получаемых результатов не ниже чем в определении Е_g другими методами.