2017-11-30
301
Дифракционный угол j определяет координату x максимумов на экране, расположенном на расстоянии l от решётки. Из рисунка 18 видно,что:
Рис. 18
Так как угол j мал, то можно принять:
tg j @ sin j = 
. (7)
Замена tg j на sin j приводит к ошибке, не превышающей величину погрешности при измерении x. Согласно условию (5) можно написать
(8)
Приравнивая правые части выражений (7) и (8), получим
. (9)
Полученному соотношению подчиняются любые периодические структуры, в том числе и сетки с различными размерами ячеек.
Дифракционная картина от сетки имеет два взаимно перпендикулярных направления расположения дифракционных максимумов, каждое из которых подчиняется соотношению (9). Если ячейки сетки квадратные, то дифракционная картина симметрична (рис. 19).
Рис. 19
ОПИСАНИЕ ОПЫТНОЙ УСТАНОВКИ
Рис. 20
В состав опытной установки, схематически представленной на рис. 20 входят: полупроводниковый лазер 1, дифракционный объект 2 (сетки с различными размерами ячеек), экран 3. Все элементы размещаются на направляющей (оптической скамье) 4 с помощью набора рейтеров. Так же в состав установки входят: дифракционная решётка (50 штрихов на мм) и линза.
|
|
|
Направляющая представлена на рисунке 21.
Рис. 21
